Математика | ||||
Микролитография-Моро У. Ч. 2: Пер. с англ.—М.: Мир, 1990. — 632 с., ил. | ||||
Моро У.
) Микролитография: В 2-х ч. Ч. 2: Пер. с англ.—М.: Мир, 1990. — 632 с., ил. ISBN 5—03—001717—8 Книга крупного американского специалиста по сути представляет собой энциклопедию, посвященную микролитографии, материалам для полупроводниковой технологии и вспомогательным технологическим операциям. Во 2-й части рассматриваются процессы обработки экспонированных резистных структур: проявление, задубливание, травление, методы и возможности безрезистной технологии, методы контроля технологических процессов. Для специалистов по технологии микроэлектроники, студентов старших курсов и аспирантов соответствующих специальностей. Оглавление Глава 10. Проявление изображений в резисте...........613 10.1. Введение.....................613 10.2. Основные механизмы.............'.'.'. 627 10.3. Чувствительность ПММА и проявление...... 637 10.4. Способы увеличения Я и Ко для ПММА...... . 643 10.5. Диазохинон-новолачные (ДХН) резисты.....! . . 648 10.5.1. Введение.............'....'.'! 648 10.5.2. Моделирование процесса проявления ДХН-резистов . . 653 10.6. Проявление негативных резистов............670 10.7. Сухое проявление...........°. ...... 680 10.7.1. Прямое формирование изображения........681 . 10.7.2. Резисты для плазменного проявления.......686 10.7.3. Плазменное травление без проявления .....'. 691 10.7.4. Перспективы сухого проявления.........691 10.8. Проявление резистов на практике....... 692 Литература................! ... 709 Глава 11. Сушка после проявления (задубливание).........719 11.1. Введение.....................719 11.2. Физико-химические процессы при задубливании..... 723 11.2.1. Адгезия...................726 11.2.2. Плавление.........'..'...'.'.'.'. 728 11.3. Химические реакции в процессе задубливания.......731 11.4. Другие способы отверждения ДХН...........735 11.5. Практическое применение задубливания.........740 11.6. Заключение и перспективы..............743 Литература....................744 Глава 12. Процессы нанесения.................747 12.1. Введение.....................747 12.2. Однослойные резисты для резистной технологии.....752 12.3. ДХН для взрывной литографии............754 12.4. Взрывная литография на пленках ПММА.......765 12.5. Однослойный резист с пологим профилем для взрывной литографии ......................767 12.6. Заключение и перспективы использования однослойных резистов...................... . 768 12.7. Двухслойный резист................. 769 12.7.1. Перенос изображения в двухслойном резисте при проявлении ...................774 12.7.2. Двухслойные фоторезисты............776 12.7.3. Перенос изображения в двухслойном резисте с по-мощью плазменного травления ..........'' Оглавление 1237 12.8. Высокотемпературная взрывная литография........783 12.9. Заключение и перспективы для двухслойных резистов .... 784 12.10. Трехслойные резисты................785 12.10.1. Планаризующие слои.............788 12.10.2. Стопслой (барьерный слой)...........788 12.10.3. Чувствительный слой.............790 12.11. Практическое использование многослойных резистов .... 792 12.12. Осаждение металла и взрывная литография.......801 12.12.1. Профиль резиста с точки зрения взрывной литографии 805 12.12.2. Толщина резиста для взрывной литографии .... 808 12.13. Технологический контроль взрывной литографии......809 12.14. Другие аддитивные процессы нанесения..........814 12.15. Гальваническое осаждение с применением резистов.....814 12.16. Маскирование для ионной имплантации.........818 Литература ....................820 Глава 13. Травление.....................833 13.1. Введение.....................833 13.1.1. Общие принципы кинетики травления.......846 13.1.2. Феноменологический механизм травления......847 13.2. Жидкостное травление................852 13.2.1. Травление SiO2................в52 13.2.2. Смачивание, адгезия и подтравливание ..... 859 13.2.3. Составы и методы первичной обработки......866 13.2.4. Напряжения в резистных пленках.........876 13.3. Пассивация при травлении SiO2...........879 13.4. Травление кремния................ . 881 13.5. Травление многослойных структур...........885 13.6. Травление алюминия.................887 13.6.1. Травители для алюминия............889 13.6.2. Электрохимическое травление..........|97 13.6.3. Заключение.................j^ 13.7. Практические аспекты жидкостного химического травления . . °»8 13.8. Отладка процесса жидкостного травления........°^? 13.8.1. Травление орошением и статическое травление .... 905 13.8.2. Другие характеристики травления.........-™° 13.9. Моделирование жидкостного травления.........~~j 13.10. Перспективы жидкостного травления.......... °11 13.11. Введение в газофазное травление............уА 13.12. Травление алюминия................ -Jr? 13.12.1. Введение ,.................™* 13.12.2. Механизмы травления алюминия.........„f? 13.12.3. Селективность травления алюминия.......d4 13.12.4. Загрязнение продуктами реакции и коррозия после за- -вершения травления..............„55 13.12.5. Задубливание резиста.............g^g 13.12.6. Практические аспекты травления алюминия.....?.- 13.12.7. Основные выводы...............„То 13.13. Травление кремния.................„.,, 13.13.1. Введение..................XZX 13.13.2. Газофазное травление.............«?д 13.13.3. Селективность...............— 13.13.4. Профили травления и искажения изображения . . • ri. 13.13.5. Равномерность плазменного травления...... 13.13.6. Загрязнения при плазменном травлении ..... 13.13.7. Применение плазменной обработки 13.13.8. Эффекты загрузки............. 1011 13.13.9. Скорость травления и регистрация момента окончания травления .............. 1014 13.14. Резюме и перспективы травления........... 1017 Литература................... 1019 Глава 14. Удаление резиста..........__....... 1038 14.1. Введение..................... 1038 14.2. Составы для жидкофазного удаления резиста..... 1042 14.2.1. Составы для снятия резиста на основе органических растворителей ................ 1043 14.2.2. Типичные жидкие средства удаления резиста . . . 1048 14.3. Средства удаления резистов на основе водных растворов . 1050 14.3.1. Кислотные составы.............. 1050 14.3.2. Щелочные составы.............. 1051 14.4. Практические аспекты удаления резистов....... 1052 14.5. Газофазное удаление резистов в плазме........ 1053 14.5.1. Реагенты для плазменного удаления резистов . . . 1054 14.5.2. Реагенты для полимеров............ 1054 14.5.3. Кислородная плазма............. 1057 14.5.4. Поле излучения плазмы............ 1059 14.6. Кинетика удаления резиста............. 1060 14.6.1. Взаимодействие газа с твердым телом...... 1060 14.6.2. Энергия активации удаления резиста...... 1064 14.6.3. Контроль и регулирование плазменного удаления резиста................... 1067 14.6.4. Скорости удаления резистов, структура полимеров . 1069 14.7. Побочные эффекты при плазменном удалении резиста . . 1072 14.7.1. Обнаружение повреждений........... 1073 14.7.2. Предотвращение загрязнений и контроль за ними . . 1077 14.8. Оборудование для плазменного удаления резиста .... 1079 14.9. Другие методы удаления резиста........... 1080 14.10. Применения кислородной плазмы в полупроводниковой литографии ..................... 1081 14.11. Перспективы................. 1082 Литература................... 1083 Глава 15. Контроль технологических процессов......... 1087 15.1. Общее рассмотрение технологических процессов..... 1087 15.2. Автоматизация литографического процесса....... 1099 15.3. Контроль резистных материалов........... 1105 15.4. Контроль обработки резиста............ 1110 15.4.1. Контроль экспонирования........... 1110 15.4.2. Контроль проявления............. 1122 15.4.3. Контроль травления............. 1129 15.5. Устранение затруднений, возникающих при проведении технологического процесса................ 1136 15.6. Заключение................... 1139 Литература................... 1140 Глава 16. Безрезистная технология.............. 1143 16.1. Введение.................... 1НЗ 16.1.1. Элементарное рассмотрение.......... 1149 16.1.2. Энергетические требования при термических и химических процессах............... 1160 16.1.3. Лазерные источники............. И52 16.2. Фотостимулированные реакции на границе газ—твердое тело 1153 16.2.1. Осаждение................. И53 16.2.2. Субтрактивное травление и удаление...... 1161 16.2.3. Заключение по поводу реакций на границе раздела газ — твердое тело.............. 1163 16.3. Реакции на границе раздела жидкость — твердое тело . . 1163 16.3.1. Осаждение и окисление............ П63 16.3.2. Травление на границе жидкость — твердое тело. . 1168 16.4. Гомофазные реакции в твердом теле......... 1169 16.4.1. Сублимография.............. 1170 16.4.2. Сжигаемые резисты с наполнением....... 1171 16.4.3. Силициды металлов............. 1173 16.4.4. Разложение солей металлов.......... 1174 16.4.5. Генерация травителей из твердофазных исходных . . 1174 16.5. Прямая лазерная обработка............ 1176 16.6. Заключение по поводу фотостимулированных процессов . . 1179 16.7. Электронно-стимулированное структурирование..... 1181 16.7.1. Осаждение с помощью электронных пучков .... 1181 16.7.2. Электронно-стимулированное травление...... 1182 16.8. Ионно-лучевые процессы............. 1185 16.9. Состояние и перспективы безрезистной литографии . . . 1187 Литература................... И89 Глава 17. Состояние и перспективы развития технологии .... 1194 17.1. Литография.................. 1194 17.2. Резистные материалы............... 1199 П.2.1. Позитивные фоторезисты........... 1202 17.2.2. Негативные фоторезисты........... 1205 17.2.3. Позитивные радиационно-чувствительные резисты . . 1206 17.2.4. Негативные радиационно-чувствительные резисты . . 1210 17.2.5. Дополнительные материалы для литографии .... 1212 17.2.6. Общее сравнение резистов.......... 1214 17.3. Технология литографии............... 1214 17.3.1. Техника нанесения покрытий......... 1215 17.3.2. Сушка и задубливание............ 1216 17.3.3. Экспонирование............... 1217 17.3.4. Проявление................. 1220 17.3.5. Процессы удаления материала......... 1221 17.3.6. Дополнительные процессы........... 1222 17.3.7. Снятие резистов............... 1222 17.3.8. Безрезистная технология........... 1223 17.3.9. Технологический контроль........... 1223 17.4. Послесловие................... {225 Литература................... '226 Предметный указатель.............. 1227 Цена: 300руб. |
||||