ОГЛАВЛЕНИЕ
Предисловие........................ 7
Введение........................... 11
Предмет спектрального анализа (11). Особенности спектрального анализа (13). Трудности и недостатки спектрального анализа (14). Количество анализируемых элементов (16). Содержание методов спектрального анализа (16).
Глава I. Общие свойства призменных спектрографов
§ 1. Действие спектральной призмы; типы спектральных
призм....................... 20
§ 2. Оптическая система спектрографа.......... 30
§ 3. Увеличение спектрографа.............. 33
§ 4. Расположение спектра относительно оптической оси
камеры спектрографа............... 36
§ 5. Основные элементы конструкций спектрографов ... 45
§ 6. Автоколлимационные спектрографы......... 49
§ 7. Кривизна спектра.................. 50
§ 8. Материалы для оптики спектрографов и их некоторые
свойства....................... 54
§ 9. Дисперсия спектрографа; длина спектра....... 60
§ 10. Явления диффракции в системе спектрографа; разрешающая способность спектрографа........ 64
Реальная разрешающая способность спектрографа (76). Ширина спектральной линии в спектрографе (81). Острота фокусировки спектрографа (S3).
§ 11. Передача интенсивности спектральных линий при
помощи спектрографов; светосила спектрографа ... 85
§ 12. Влияние характера освещения щели спектрографа
на структуру спектральной линии.......... 92
§ 13. Выбор типа спектрографа для спектроаналитических
задач.......................104
1*
Глава II. Наиболее употребительные образцы спектрографов
§ 14. Спектрографы небольшой дисперсии........108
§ 15. Спектрографы средней дисперсии..........110
Кварцевый спектрограф ИСП-22 (ПО). Кварцевый спектрограф Q-24 (113).
§ 16. Спектрографы большой дисперсии.........117
Спектрограф КС-55 со сменной кварцевой и стеклянной оптикой (122). Большой спектрограф Е-492 (126).
§ 17. Спектрографы со стеклянной оптикой ........ 129
Трехпризменный спектрограф ИСП-51 (132). Стилометр с фотографической камерой (141). *
§ 18. Осветительные системы..............142
Способ 1. Освещение щели без лянзы Г143). Способ 2. Фокусировка изображения источника на щель при помощи сферической линзы (147). Способ 3. Использование цилиндрической линзы (149). Способ 4. Использование сфероцилиндрической линзы (150). Способ 5. Сферическая линза с изображением источника на объективе коллиматора (151). Способ 6. Освещение с промежуточным изображением (155). Способ 7. Трехлинзовая система с промежуточным изображением (156).
Некоторые выводы............... • 162
§ 19. Держатели осветительных линз и штативы для проб • 163
Штативы для электродов (166). Универсальный штатив ПС-162 (168). Раздельная система штативов (170). Штатив для образцов произвольной формы (173).
§ 20. Установка и юстировка источника света и осветительных линз......................174
Установка спектрографов ИСП-4 и УСП-1 (177). Установка спектрографа ИСП-22 (179). Установка спектрографа Q-24 (180).
§ 21. Фокусировка спектрографов ............183
§ 22. Приспособления к спектрографам..........190
Шкала длия волн (190). Диафрагмы, ограничивающие высоту щели (193). Ослабители (196).
§ 23. Правила ухода за спектрографом и работы с ним . . 199
Общие указания (199). Очистка щели спектрографа (201). Проверка нул« щели (202). Установка вертикальности щели (203). Очистка осветительных линз (203). Погрешности в установке электродов (204). .
Глава III. Источники света для спектрального анализа
§ 24. Конденсированная высоковольтная искра......207
Схема управляемого разряда (211). Искровой генератор ИГ-2 (213). Генератор с синхронным прерывателей (по Фейсснеру) (217).
§ 25. Дуга переменного тока...............223
Механический прерыватель в контуре дуги (227).
§ 26. Некоторые свойства искрового и дугового разрядов . 229
Энергетическая схема уровней в атоме -(229). Механизм возбуждения атомов в дуге и искре (233). Искровой разряд (234). Влияние дефектов искровых генераторов (240). Дуговой разряд переменного тока между металлическими электродами (242).
§ 27. Активизация искры и дуги посторонними ионизаторами 244 § 28. Действие искры и дуги переменного тока на поверхность электродов..................248
действие конденсированной искры (248). Действие дуги переменного тока (255).
§ 29, Приемы для возбуждения трудно возбудимых элементов........................260
§ 30. Дуговой генератор ДГ...............265
§ 31. Перенос вещества в источниках света для спектрального анализа....................267
§ 32. Сравнительная характеристика источников света; области их применения................269
§ 33. Реле времени для управления работой генераторов . 276
Глава IV. Электроды для спектрального анализа
§ 34. Отбор пробы для анализа металлов и сплавов . . . 278
§ 35. Материал постороннего электрода......... 279
§ 36. Заточка электродов.................. 284
§ 37. Работа с растворами................ 287
§ 38. Работа с порошками................ 290
Глава V. Микрофотометры для спектральных линий
§ 39. Общие принципы действия; принципиальная схема . . 293
§ 40. Микрофотометр МФ-1.............. . 299
§ 41. Микрофотометр МФ-2............... 306
§ 42. Отсчетные шкалы микрофотометров........ 313
§ 43. Замечания относительно работы с микрофотометрами 317
Режим горения лампы (317). Выбор ширины щелей и регулирование их (319j. Техника фотометрирования (320). Чистота фотографической цлаетинки (321).
Глава VI. Вспомогательные приборы для спектроанали-тических работ
§ 44. Простейшие приспособления............323
§ 45. Спектропроекторы.................325
Спектропроектор ПС-18 (326). Атласы спектров железа к спектро-проекторам (329).
§ 46. Двойной спектропроектор ДСП-1..........331
§ 47. Измерение длин волн спектральных линий.....334
Оценка по шкале длин волн (334). Оценка при помоща спектра железа (388). Измерительный микроскоп МИР-12 (338). Компаратор ИЗА-2 (340).
Приложение:
Вторичные нормали в спектре железа..........346
Вторичные нормали в спектре неона и криптона.....347
Литература........................348
Предметный указатель...................365
ПРЕДИСЛОВИЕ
Эмиссионный спектральный анализ сделал за последние 10 лет в нашей стране особенно большие успехи. Достаточно сказать, что обычно на крупных машиностроительных заводах, кроме центральной лаборатории спектрального анализа, имеется несколько цеховых экспрессных лабораторий, обслуживающих литейные цехи. С каждым годом ширится число работников спектрального анализа, они знакомятся с этой новой техникой анализа либо в вузе, либо в порядке переквалификации. Среди этих работников мы имеем две категории: инженеров с высшим образованием и техников со средним образованием.
Разнообразие задач, решаемых современными методами спектрального анализа, непрерывно растет. Со стороны промышленности выдвигаются все новые и трудные задачи. Решение этих задач требует хорошего знания спектроанали-тической техники и умения ее рационально использовать. Надо согласиться, что распространенная техника метода трех эталонов стала слишком примитивной; она часто совершенно непригодна для решения новых задач (например, анализ чистоты металлов, анализ высоких концентраций и др.). Необходимо развивать новую технику проведения анализов, а для этого надо изучать аппаратуру, которой обильно снабжает лаборатории наша социалистическая Родина. Настоящее руководство и составлено с горячим желанием помочь изучить все детали нашей современной спектре-
Цена: 150руб.
