Математика

Физика

Химия

Биология

Техника и    технологии

Новые методы спектрального анализа-Сборник .— Новосибирск: Наука, 1983 стр.190
Новые методы спектрального анализа.— Новосибирск: Наука, 1983. . .
В книге рассматриваются вопросы теории и практики эмиссионного, атомно-абсорбционного и атомно-флуоресцентного спектрального анализа. Основное внимание уделено исследованию Процессов в новых источниках света, разработке и совершенствованию способов спектрального анализа, метрологии, новым приборам и автоматизации фотографических способов спектрального анализа.
Сборник рассчитан на научных работников, преподавателей вузов, студентов.
ПРЕДИСЛОВИЕ
В июне 1981 г. в г. Иркутске состоялась вторая Всесоюзная конференция до новым методам спектрального анализа и их применениям, организованная Научным советом АН СССР по проблеме спектроскопии атомов и молекул и Институтом геохимии им. А. П. Виноградова СО АН СССР.
В конференции участвовало свыше 300 специалистов в области эмиссионного и атомно-абсорбционного спектрального анализа, среди них ведущие ученые — Анатолий Константинович Русанов, Всеволод Васильевич Недлер, Александр Натанович Зайдель, Аркадий Романович Стриганов и другие. Благодаря их -работам созданы новые направления в различных областях науки и техники. Инициатор проведения конференции — крупный ученый и научный организатор Лев Викторович Липйс, активная творческая работа которого в значительной мере способствовала широкому внедрению спектрального анализа в практику.
Иркутск не случайно был избран местом встречи спектроскопис-.тов страны. Здесь жил и плодотворно работал Яков Давидович Райхбаум, основатель и руководитель иркутской школы спектрального анализа. В работах этой школы большое внимание уделялось исследованию и интерпретации процессов, происходящих~в источниках возбуждения спектров и на электродах, в электротермиче-'ских атомизаторах, что способствовало развитию метода и его успешному практическому исцользованию. На основе изучения процессов парообразования частиц аэрозоля в плазме разряда получил применение сцинтилляционный спектральный анализ. Его использование связано с регистрацией отдельных вспышек .спектральных линий исследуемого элемента при прохождении частиц пробы через плазму разряда. При этом снижение предела обнаружения за^ висит не от среднего содержания анализируемого элемента в пробе, а от его концентрации в отдельных частицах исследуемого вещества.
Сцинтилляционный метод спектрального анализа разрабатывается в двух вариантах: эмиссионном — в Институте геохимии им. А, П. Виноградова и атомно-абсорбционном — в Наутао-исследо-вательском институте прикладной физики при Иркутском университете,
СОДЕРЖАНИЕ
Предисловие (С. В. Лонцих) ..................
В. В. Недлер, В. В. Велянин. Современное состояние и перспективы
развития спектрального анализа .............. б
Исследование процессов в новых источниках и атомизаторах Э. Л. Альтман, А. А. Танеев, Ю. И. Туркин. Исследование процессов в модулированном источнике резонансного излучения для атомно-
абсорбционного анализа ..... ............. .12
В. С. Бураков, П. Я. Мисаков, П. А. Науменков, С. Н. Райков. Аналитические возможности метода внутрирезонаторной лазерной спектроскопии . ;....................... 15
Е. К. Вульфсон, В. И. Дворкин, А. В. Корякин. Возможности и ограничения применения лазеров для атомизации вещества ..... 20
Л. М. Каган. Изучение некоторых особенностей комбинированных разрядов............. '............... 24
А. И. Дробышев, Ю. И. Туркин, А. М.- Риш. Исследование возможности
применения разряда и охлаждаемом полом катоде в качестве
атомизатора в атомно-абсорбционном спектральном аналиае 27 t
А. Ф. Лосева, А. Г. Лутпохин, Г. П. Строканъ, Г. Н. Толмачев, В. Я. Ха-
силев. Использование поперечного высокочастотного разряда
для атомно-абсорбционного андлиза............ 31
А, X. Гильмутдинов, В. В. Рыжов, Ц. И. Фишман. Исследование поведе-
• ния атомов элемента-примеси в прерванных дугах...... 33
Л, И. Карпенко, Л. А. Фадеева, А. В. Карякин. Изучение процессов при
--спектральном анализе в среде инертных газов........ 37^4/
Д. Е. Максимов, А. Н. Рудневский. Исследование и аналитическое приме- """" нение эффекта усиления интенсивности линий некоторых элементов в разряде с полым катодом при введения в плазму паров
кадмия и цинка..................... 41
Совершенствование и разработка методов спектрального анализа
A. И. Зайделъ, Р. С. Рубинович. Атомно-флуоресцентный анализ и его
достижения ......................... 43
Д, А. Кацков. Исследование процессов атомизации — путь к применению атомно-абсорбционной спектросконии в физико-химическом анализе............................. 48
B. И. Меньшиков, С. Е. Воробьева, В. Д. Цыханский, В. И. Ложкин.
К теории процессов атомизации в электротермической атомно-абсорбционной спектрометрии.........'....... 53
В. И. Меньшиков, С. Е. Воробьева, В. Д. Цыханский. Исследование механизма атомизации при нестационарном процессе испарения в графитовых электротермических атомизаторах методом атомно-абсорбционной спектрометрии............... 57
Ю. И. Беляев, В. И. -Щербаков, Б. Ф. Мясоедов. Исследование процессов испарения и атомнзации в электротермическом атомно-абсорб-ционном анализе методом радиоактивных изотопов...... 62
A. Д. Широканов, А. А. Янковский. Локальный атомно-абсорбционный
анализ.с испарением пробы излучением лазера в моноимпульсном режиме........................... 65
Е. П. Пилипенко, Ю. Б. Атнашев, В. Н. Музгин. Прямой атомно-абсорбционный анализ твердых токопроводящих проб с вольфрамовым атомизатором . . . :.................... 68
Л. Т. Сухов. Влияние давления на атомно-абсорбционные измерения в
лазерном факеле....................... 70
B. К. Нагдаев, А. А. Пупышев. Исследование процесса образования сво-
бодных атомов с применением графитового атомизатора открытого типа......................... 74
А. X. Гилъмутдинов, И. С. Фишман. Структура поглощающего слоя атомов в полузакрытых атомизаторах............ . 77
A. И. Бажин, Ю. М. Буравлев, В. Н. Рыжов. О применении метода ион-
но-фотонной эмиссии для спектрального анализа поверхности различных материалов .................. 82
Н. Л. Чумакова. Оценка потерь на излучение в дуговом разряде при
спектральном анализе................... 86
Ю. М. Буравлев, Р. Чандра Синха. Некоторые особенности применения лазерного излучения для микроспектрального анализа различных материалов...................... 88
B. В. Лазганов, А. С. Самбуева, С. А. Сверчинская, С. А. Шипицын. Но-
вый метод исключения влияния фона и эффекта проявления при фотографической регистрации спектра в эмиссионном спектральном анализе..................... 93
Новые приборы и автоматизация
A. А. Бойцов. Вопросы автоматизации процесса эмиссионного спектраль- 97
ного анализа с фотографической регистрацией спектров (обзор) И. Банис, Г. Давидавичюс, И. Обераускас, А. Урбас. Автоматизированный микрофотометр для спектроаналитических исследований 105 Ю. П. Агуреев, В. Н. Егоров. Использование ЭВМ для автоматизации и
обработки результатов спектрального анализа....... 108
Л. Г. Матвеев, Л. М. Иванцов. Новый универсальный -спектральный прибор для аналитических работ, включая эмиссионный и атомно-абсорбционный спектральный анализ геологических объектов 112
B. И. Гришко, Л. X. Кравченко, А. Л. Циринский, И. Г. Юделевич.
Многоцелевой флуоресцентный анализатор......... 115
Н. К. Вельский, Л. А. Небольсина. Л. К. Шубочкин. О возможности автоматизации процесса атомно-абсорбционного анализа некоторых твердых проб....................... 118 "
A. Г. Сибатов, В. П. Иванов. Управляемый дуговой генератор повышен-
ной стабильности для спектрального .анализа ......'.. 120
B. М. Вуколиков, А. Я. Олейников, М. И. Перцовский. Автоматизация
полевого спектрального эксперимента на основе аппаратуры КАМАК и микро-ЭВМ .................. 124
В. И. Брюхое, А. Н. Зубарев, А. М. Лозинский. Автбматизация процесса ч
сжигания проб при проведении спектрально го анализа в гео- ,; •'$ логии............................ 127'/',)
Т. Г. Туманова, А. К. Туманов. Аналитические возможности автоматической системы управления вдуванием порошков в источник возбуждения спектра................... 131
Н. И. Москаленко,Ю.А. Ильин, А. В. Разладов, В. И. Лезин. Установка для измерения эмиссии высокотемпературных пламен в видимом и инфракрасном диапазонах спектра...........,. 133/
Метрология спектрального анализа
A. К. Русанов, Н. Т. Батова, А. М. Быбочкина, В. М. Одинцова. При-
чины возникновения систематических ошибок при спектральном дуговом определении труднолетучих элементов и способы их устранения......................... 137
Л. К. Понялковская, М. Р. Лифлянд, В. Н. Морозов, В. Д. Малых. Метрологические характеристики сцинтилляционного метода анализа золотосодержащих руд.................. 140
С. И. Прокопчук, С. В. Лонцих. Исследование точности сцинтилляцион-
~ного спектрального анализа дисперсных веществ и материалов 143
Л, В. Кусакина. Повышение точности результатов спектрального анализа путем снижения погрешностей неоднородности распределения элементов в стандартных образцах и пробах ........ 146
B. А. Сапожников, Д. П. Налобин. Оценка погрешностей пробоотбора и
минимальной величины представительной пробы ...... 149 V
И. Е. Васильева. Исследование влияния погрешности, обусловленной неоднородностью дисперсного материала, на точность приближенно-количественных методов спектрального анализа ....... 151 V
Г. М. Мкртчян, А. А. Авакян, М. Я. Мартиросян. Изучение и оценка метрологических характеристик спектрального анализа в гео-1 логии методом статистического моделирования ....... 155 V
Е. В..Смирнова, В. В. Конусова, М. В. Пажитных. Оценка точности химико-спектрального определения редкоземельных элементов в геологических пробах.................... 159 V
И. Я. Коротаева. Параметр для оценки методов определения золота . . . 162
Г. А. Кузнецова, Ю. Н. Кузнецов. Об оптимальном комплексе приемов
статистической обработки данных спектрального анализа . . . 166 V
Е. Д. Прудников. Расчет стандартного отклонения и новый способ описания параметров спектральных методов анализа....... 169 V
В. Н. Каликов, В. П. Марков. Основные критерии эталонирования в лазерном микроспектральном анализе минералов ....... 172
Н. Ф. Захария, О. П. Турулина. Об адекватности состава образцов сравнения условиям спектрального анализа методом возгоняющих добавок.......................... 176 V
Г. И. Терентъев, С. В. Шибаева, А. В. Покровский. Сличение стандартных образцов состава алюминиевых сплавов для спектрального анализа...........;................. 179

Цена: 150руб.

Назад

Заказ

На главную страницу

Hosted by uCoz