Электроиномикроскопические изображения дислокаций и дефектов упаковки, справочное руководство, под редакцией В. М. Косевича и Л. С. Палатника, Главная редакция физико-математической литературы издательства «Наука», 1976 г.
Справочник содержит классифицированный набор типичных электронномикроскопических фотографий дислокаций и дефектов упаковки. Дифракционный контраст на микроскопических снимках сопоставляется с результатами теоретических расчетов. Приведены краткие сведения о методике расчета дифракционного контраста на основе динамической теории рассеяния электронов и с применением ЭЦВМ. Значительное внимание уделено новейшему методу представления результатов теоретических расчетов в виде так называемых «карт интенсивности» (теоретических электронномикроскопических фотографий), печатаемых вычислительной машиной.
Книга облегчит практическую работу по расшифровке электронномикроскопических снимков, а также ознакомит с современной методикой расчетов дифракционного контраста.
Табл. 2, рис. 195, библ. 153 назв.
ОГЛАВЛЕНИЕ
Предисловие . ......................... 5
Глава 1. Вопросы методики расчета дифракционного контраста ... 9
1.1 Исходные положения.................. 9
1.2. Уравнения динамической теории............. 9
1.3. Способы представления результатов расчета........ 14
1.4. Методы численного решения уравнений динамической теории 18 1.5 Заключительные замечания............... 25
Глава 2. Изображение единичных дислокаций....... . . . . 27
2.1. Введение...................... 27
2.2. Дислокации, параллельные поверхности кристалла .... 28
2.3. Дислокации, наклоненные к поверхности кристалла . . ." 36
2.4. Дислокации, перпендикулярные поверхности кристалла . . 40
2.5. Особые эффекты контраста, связанные с дислокациями . . 43
2.6. Заключительные замечания............... 44
Глава 3. Изображение групп дислокаций............. 46
3.1. Дислокационные диполи и пары дислокаций....... 46
3.2. Скрещивающиеся и пересекающиеся дислокации . , ... 50
3.3. Ряды дислокаций, располагающихся в плоскости скольже-
. ния........................... 52
3.4. Однорядные дислокационные стенки — малоугловые границы наклона..................... 55
Глава 4. Дислокационные сетки................ 60
4.1. Дислокационные сетки, параллельные поверхности кристалла ......................... 60
4.2. Дислокационные сетки, наклоненные к поверхности кристалла ........................ 64
Глава 5. Дислокации на межфазных и межкристаллитных границах , 68
5.1. Дислокации несоответствия............... 68
5.2. Дислокации на границах ориентированных выделений . . 74
5.3. Дислокации на большеугловых границах........ 74
Глава 6. Особые дислокационные конфигурации.......... 78"
6.1. Дислокации, декорированные примесями ... ..... 78
6.2. Дислокации с порогами................ 79
6.3. Контраст на изображении угловых дислокаций...... 81
6.4. Геликоидальные дислокации.............. 83
6.5. Сверхструктурные дислокации в упорядоченных сплавах 83
6.6. Дислокационные источники ... ........... 85
6.7. Изображения дислокаций на муаровых картинах , , . , 86
Глава 7. Дислокационные петли................. 94
7.1. Введение...................... 94
7.2. Отличительные признаки петель, создаваемых полными и частичными дислокациями, а также пластинчатыми выделениями ......................... 95
7.3. Анализ пространственного расположения петли...... 97
7.4. Определение вектора Бюргерса петли по ширине ее изображения ......................... 99
7.5. Особенности изображений дислокационных петель малых размеров........................ 104
7.6. Анализ природы петель по аномально широким изображениям .......................... 108
7.7. Призматические петли, перпендикулярные поверхности . . 109
7.8. Использование особенностей остаточного контраста для определения природы призматических петель........ 112
7.9. Дислокационные петли, образующиеся при радиационном воздействии на кристаллы................. 118
Глава 8. Изображение дефектов упаковки............ 121
8.1. Природа контраста на дефектах упаковки........ 121
8.2. Методика расчета контраста на дефектах упаковки .... 122
8.3. Основные типы контраста на дефектах упаковки в ГЦК-кри-сталлах ..... .................... 124
Глава 9. Частичные дислокации................. 138
9.1. Частичные дислокации в ГЦК-решетке......... 138
9.2. Анализ контраста на частичных дислокациях Шокли построением ТЭФ..................... 140
9.3- Изображение в слабых пучках расщепленной дислокации,
состоящей из двух дислокаций Шокли . ......... 145
9.4. Анализ контраста на частичных дислокациях Франка с помощью ТЭФ...................... 149
Приложение. Уточнение индицнрования электронограмм и опреде-
ление'по кикучя-линиям ориентировки кристаллов....... 152
Литература . . ....................... 157
ПРЕДИСЛОВИЕ
У каждого издания есть свой адресат. Справочник, который Вы держите в руках, адресован начинающим. Возможно, что он похож на букварь. Или на более солидную вещь — словарь с картинками. Если Вы действительно начинающий, Вам может показаться странным, зачем нужен словарь в таком ясном деле, как созерцание микроскопических снимков — картинок. Картинка — она и так понятна. Беда, однако же, в том, что электронно микроскопические снимки нельзя рассматривать так, как рассматривают снимки, полученные обычным оптическим прибором, например, фотоаппаратом, где можно безошибочно узнать очертания знакомых предметов и лиц. Электронномикроскопиче-ский снимок кристаллического образца — зашифрованное послание. Написано оно электронным пучком, который на пути через кристалл претерпел дифракцию, неупругое рассеяние, поглощение. В результате получается такое изображение деталей кристаллической структуры, которое нередко не имеет ничего общего с наглядными кристаллографическими моделями, которые мы привыкли строить из шариков и плоскостей.
Электронномикроскопический снимок иногда понятен не более, чем ассирийская клинопись. Чтение его дается нелегко. Некоторые снимки даже подготовленным специалистам приходится не просто читать, а скрупулезно и томительно расшифровывать. При расшифровке могут быть два пути. Первый — провести расчет контраста изображения самостоятельно. Для этого нужно освоить в полном объеме теорию дифракционного электронномикроскопического контраста и иметь под рукой вычислительную машину. Второй путь — более экономный и по началу более эффективный — метод аналогии. Вы берете Электронномикроскопический снимок с непонятными деталями и задаетесь вопросом: «А может быть что-то похожее уже расшифровано?» В этом случае нужно иметь под рукой компактный справочник или, если развивать сравнение, словарь электронноми-кроскопических образов. Именно эту цель — скомпоновать подборку типичных электронномикроскопических изображений, дать краткую справку об их происхождении и методике расшифровки — преследовали составители.
Цена: 150руб.
