В пособии систематизированы сведения, взятые из периодическом литературы (по 1'9вО-й год включительно), о принципах работы приборов, предназначенных дли регистрации дифракционных картин, получаемых при рассеянии рентгеновских лучей монокристаллами, и измерения интегральных инггенсивностей отражений. Каждый метод изложен в послз-доваггельности, определяемой порядком операций, выполняемых при практической работе. Особое внимание при описании каждого метода обращено иа физические принципы или математическую модель физического явления, главные конструктивные особенности каждого прнбооа, вытекающие из физической сущности явления, и содержание математических программ для управляющих ЭВМ, в основе которых лежат определенные математические модели физических явлений. Пособие рассчитано на читателей, не обладающих специальной физико-математической подготовкой.
Библиогр. 13 назв. Ил. 176. Табл: 13.
Содержание
Предисловие................. 3
Тема 1. Получение и регистрация рентгеновских лучей....... 5
§ 1. Генераторы рентгеновского излучения . ....... 5
§ 2. Рентгеновское излучение и его спектры........ 17
§ 3. Поглощение рентгеновских лучей при прохождении через вещество 21
§ 4. Выбор излучения и его монохроматизация....... 25
§ 5. Синхротронное излучение ........... 36
§ 6. Регистрация рентгеновского излучения........ 44
Тема 2. Фотографические методы регистрации дифракционной картины . . 67
§ 1. Выбор кристалла, его ориентация и крепление в рентгеновских камерах . . . . ............ 67
§ 2. Метод Лауэ.............. 69
§ 3. Методы вращения и качания . ......... 81
§ 4. Метод Вейсенберга............. 86
§ 5. Метод фотографирования обратной решетки...... 102
§ 6. Прецессионный метод............ 112
§ 7. Безэкранные методы регистрации отражений. Камера Абрахамссона 123
§ 8. Прецессионный безэкранный метод......... 128
§ 9. Метод Арндта — Вонакотта........... 141
§ 10. Сопоставление безэкранных методов съемки...... 157
§ 11. Определение интенсивностей рефлексов с помощью фотографической
регистрации рентгеновских лучей. Общие вопросы..... 158
§ 12. Эффект Вустера и его влияние на точность определения интенсивности рентгеновских лучей по оптической плотности почернения
рентгеновских пленок............ 160
§ 13. Основные принципы устройства микроденситометров .... 162 § 14. Погрешности определения интегральных интенсивностей отражений по измерениям оптических плотностей почернения пятен на рентгенограммах ................ 175
Тема 3. Дифрактометрическая регистрация рентгеновских лучей, рассеянных
кристаллом . . . . . .......... 181
§ 1. Дифрактометры с точечными детекторами. Общие вопросы . . 181
§ 2. Устройство четырехкружных гониометров . ...... 185
§ 3. Первоначальный поиск отражений......... 194
§ 4. Системы координат, используемые в дифрактометрии .... 200
§ 5. Автоиндицирование . . . ......... 203
§ 6. Методы выведения узлов обратной решетки на сферу отражения . 210
§ 7. Азимутальная ориентация отражающих плоскостей..... 213
§ 8. Измерение интегральных интенсивностей отражений .... 214.
§ 9. Оптимизация дифрактометрического эксперимента..... 240
§ 10. Эмпирические методы определения факторов пропускания . . 244
§ 11. Одновременные отражения . . . . ...... 260
§ 12..Методы учета и устранения ошибок, вносимых кристаллом-монохро-
матором . . ............. 269
§ 13. Энергодисперсионная дифрактометрия....... 276
§ 14. Особенности дифрактометрии при использовании координатных
детекторов............... 280
Заключение................ 287
Рекомендуемая литература.......... 287
Цена: 300руб.
