Математика | ||||
Полупроводниковые приборы с отрицательным сопротивлением-Гаряинов С. А. | ||||
Гаряинов С. А., Абезгауз И. Д.
Ю Полупроводниковые приборы с отрицательным сопротивлением. М., «Энергия», 1970. 320 с. с нлл, В книге рассмотрены полупроводниковые приборы с патающим участком вольт-амперной характеристики с позиции общей теории отрицательного сопротивления. Изложены основы работы, особенности кон->••] рун ров а ни я и применения таких приборов. Книга предназначена для инженерно-технических и научных работников полупроводниковой электропики, а также для студентов старших курсов и читателей, интересующихся приборами с отрицательным iо- кур пропшлг-ипем. ПРЕДИСЛОВИЕ В последнее десятилетие в полупроводниковой радиоэлектронике возникло повое направление связанное с созданием приборов с отрицательным сопротивлением (ОС). Значение этого направления с каждым годом возрастает, поскольку применение полупроводниковых приборов с отрицательным сопротивлением значительно упрощает конструирование схем и позволяет существенно сократить габариты и вес радиоэлектронной аппаратуры. Благодаря внутренней положительной обратной связи по току или напряжению у приборов с ОС можно построить автогенератор без элементов цепи внешней положительной обратной связи. Наиболее широкое применение полупроводниковые приборы с ОС нашли в переключающих, усилительных и генераторных схемах. Наличие внутренней обратной связи позволяет считать полупроводниковые приборы с ОС по существу элементарными функциональными твердыми схемами. Впервые в научную литературу термин и понятие «отрицательное сопротивление» были введены М. А. Бонч-Бруевичем [Л. 1] после изобретения О. В. Лосевым [Л. 2] кристадина. Однако внимание радиоинженеров к приборам с ОС было привлечено лишь после появления в 1958 г. туннельного диода, предложенного японским физиком Еса-ки [Л. 6]. Есаки изучал явление пробоя в узких германиевых р-п-переходах. Им было установлено, что пробой p-n-перехода, образованного в вырожденном германии, происходит вследствие туннельного эффекта. В отличие от кристадина, имевшего участок отрицательного сопротивления на вольт-амперной характеристике, туннельный диод имеет участок отрицательной проводимости. Туннельные диоды правильнее было бы называть приборами с отрицательной проводимостью СОДЕРЖАНИЕ Предисловие .............. ЧАСТЬ I ОТРИЦАТЕЛЬНОЕ СОПРОТИВЛЕНИЕ И ФИЗИЧЕСКИЕ ЯВЛЕНИЯ, ОБУСЛОВЛИВАЮЩИЕ ЕГО ПОЯВЛЕНИЕ В ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ПРИБОРАХ Глава первая. Отрицательное сопротивление 1-1. Понятие об отрицательном сопротивлении и отрицательной проводимости......... 1-2. Комплексное представление отрицательного сопротивления и отрицательной проводимости ..... 1-3. Полупроводниковый прибор как отрицательное сопротивление ............ 1-4. Отрицательное сопротивление и отрицательная проводимость ............ 1-5. Включение отрицательного сопротивлении и отрицательной проводимости в электрическую цепь . 1-6. Оптимальные значения отрицательного сопротивления и отрицательной проводимости ..... 1-7. Моделирование отрицательного сопротивления и отрицательной проводимости........ 1-8. Способы изменения формы вольт-амперной характеристики приборов с отрицательным сопротивлением л а а а и т о р а я. Общие свойства приборов с отрицательным сопротивлением .......... 2-1. Классификация приборов с отрицательным сопротивлением ............ 2-2. Обратная связь в приборах с отрицательным сопротивлением ............ 2-3. Взаимосвязь вида вольт-амперной .характеристики с типом обратной сня.чп и характером реактивности приборов е (njiiinarivii.iii.iM сопротивлением ... 29 2-1. О дуальности приборов с вольт-амперными .характеристиками I и II классом........37 2-5. Условия появления участка отрицательного сопротивления на вольт-амнерной характеристике .... 41 7 9 10 13 14 17 19 21 25 ЧАСТЬ II ПРИБОРЫ ПЕРВОГО И ВТОРОГО КЛАССОВ Глава третья. Туннельные и обращенные диоды ... 47 3-1. Физические процессы и туннельных диодах, обусловливающие появление отрицательной проводимости . 47 3-2. Ь'ольт-ампсрцая .характеристика туннельного диода 54 3-3. Эквивалентная схема и основные параметры туннельного диода............59 3-4. Зависимость параметров туннельного диода от температуры .............63 . Обращенные диоды...... 3-6. Время переключения туннельного диода •Л.7 U.......,...... ------- 3-5. Обращенные диоды..........06 3-6. Время переключения туннельного диода .... 68 3-7. Измерение параметров туннельного диода ... 71 Глава четвертая. Общие свойства приборов со структуой -п--п- рой р-п-р-п-тнпа 87 4-1. Физические процессы в р-я-р-я-структуре, обусловливающие появление участка с отрицательным сопро- тивлением на вольт-амперной характеристике ... 87 4-2. Эквивалентная схема р-я-р-я-структуры .... 99 4-3. Вольт-амперная характеристика р-я-р-я-структуры . 102 4-4. Время переключения р-я-р-л-структуры . . . . 105 4-5. Особенности измерения параметров приборов со структурой р-я-р-я-типа ........ 108 Глава пятая. Типы приборов второго класса . . . . 111 5-1. Динистор ............ 111 5-2. Тринистор ............ 118 5-3. Бинистор ............ 124 5-4. JV- транзистор ........... 131 5-5. Диод с двойной базой ......... 137 5-6. Криосар ............ 13J 5-7. Лавпппо-инжекцпонпый дпп/i ....... 141 ЧАСТЬ III ОСОБЕННОСТИ КОНСТРУКЦИИ И ТЕХНОЛОГИИ ИЗГОТОВЛЕНИЯ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ПРИБОРОВ С ОТРИЦАТЕЛЬНЫМ СОПРОТИВЛЕНИЕМ Глава шестая. Особенности конструкции приборов с отрицательным сопротивлением ....... 6-1. Конструкция туннельных и обращенных диодов . . 144 6-2. Конструктивное оформление приборов на основе р-я-р-я-структуры и других типов приборов ... 146 Глава седьмая. Основные технологические методы . . 147 7-1. Общие замечания .......... 147 7-2. Сплавная технология ......... 148 7-3. Диффузионная технология ........ 149 7-4. Диффузионно-сплавная технология ..... 149 7-5. Планарная технология ......... 150 319 144 7-Г). Меза-технология.......... 152 7-7. Электроннолучевая технолошя...... 153 Глава восьмая. Основные технологические процессы . . 154 8-1. Сплавление............ 154 8-2. Диффузия............ 171 8-3. Нанесение пленки двуокиси кремния ... . 180 8 4. Эпптаксия............ 199 8-5. Фотолитография .......... 202 8-6. Создание омических контактов и выводов . . . 204 8-7. Защита и герметизация........ 209 8-8. Напыление тонких пленок........ 215 Глава девятая. Особенности технологии изготовления туннельных диодов ........... 222 9-1. Выбор материалов.......... 222 9-2. Последовательность технологических процессов . . 22'> 9-3. Контроль параметров и испытания...... 228 Г л а в а д е с я т а я. Особенности конструирования и технологии изготовления приборов с p-n-p-n-структурой . . 229 10-1. Особенности конструирования • приборов с р-п-р-п- структурой............ 229 10-2. Выбор полупроводникового материала .... 231 10-3. Методы изготовления р-п-р-п-структур .... 231 10-4. Контроль параметров и испытания..... 235 ЧАСТЬ IV ПРИМЕНЕНИЕ И ПЕРСПЕКТИВЫ РАЗВИТИЯ ПРИБОРОВ С ОТРИЦАТЕЛЬНЫМ СОПРОТИВЛЕНИЕМ Глава одиннадцатая. Применение приборов с отрицательным сопротивлением ......... 11-1. Общие замечания.......... 11-2. Основные принципы применения приборов с отрицательным сопротивлением ........ 235 11-3. Анализ устойчивости приборов с отрицательным сопротивлением ............ 240 Глава двенадцатая. Применение приборов с вольт-амперной характеристикой 1 класса ...... 254 12-1. Генераторные схемы......... 254 12-2. Усилительные схемы......... 257 12-3. Схемы преобразователей........ 202 12-4. Логические и переключающие схемы .... 265 Глава тринадцатая. Применение приборов с вольт-амперной характеристикой II класса ...... 2G3 13-1. Общие замечания.......... 268 13-2. Релаксационные генераторы....... 269 13-3. Усилительные схемы........• 294 13-4. Переключающие схемы........ ^"' Глава четырнадцатая. Перспективы развития и применения приборов с вольт-амперными характеристиками 1 и И классов............ 305 14-1. Приборы с вольт-амперной характеристикой I класса 305 14-2. Приборы е вольт-амперной характеристикой И класса 308 Литература.............. 31^ Цена: 150руб. |
||||