Математика

Физика

Химия

Биология

Техника и    технологии

Физические основы рентгеноспектрального локального анализа-. Б. Боровского
Физические основы рентгеноспектрального локального анализа, перев. с англ., под ред. И. Б. Боровского, Главная редакция физико-математической литературы изд-ва «Наука», 1973.
Новый метод анализа вещества в микрообъемах — рентгеноспектральный анализ с помощью тонко сфокусированного электронного зонда — возник двадцать лет назад и в последнее десятилетие получил широкое распространение. Применение этого метода позволило достичь крупных успехов в физике твердого тела, металловедении, электронике, минералогии, биологии и во многих областях техники. Однако литература на русском языке, посвященная новому методу, еще чрезвычайно скудна. Восполнить этот пробел предназначен, в частности, предлагаемый сборник переводов, посвященный физическим основам локального рентгеноспектрального анализа. В сборник включены наиболее важные работы, представленные на международные конференции последних лет.
Таблиц 50. Рис. 155. Библ. назв. 289.
СОДЕРЖАНИЕ
Предисловие редактора перевода............. 5
/ . Поглощение энергии электронов в толстых мишенях.
В. Косслетт.................... 11
2. Прогресс в определении поправки на эффект атомного номера. Д. Пул................... 28
3. Методы расчета возбуждения рентгеновского излучения
электронами. Д. Браун.............. 69
4. Распределение по глубине характеристического рентгеновского излучения. Р. Кастен, Ж. Энок...... 85
5. Вычисление проникновения электронов и возбуждения рентгеновского излучения в толстых мишенях. Г. Бишоп 92
6. Экспериментальное определение поправки на обратное рассеянии электронов. Ж. Дерьян, Р. Кастен .... 101
7. Измерение обратного рассеяния электронов от толстых мишеней. Г. Бишоп................. 109
8. Прогресс в вычислении тормозной способности и фактора обратного рассеяния. П. Данкамб, С. Рид....... 117
9. Некоторые вопросы количественного рентгеноспектрального локального анализа. Ж. Филибер, Р. Тиксье . . . 139
10. Расчет влияния атомного номера и поглощения рентгеновских лучей на результаты микроанализа при помощи электронных вычислительных машин. Г. Ранзетта,В. Скотт 158
11. Машинный расчет поправки на поглощение при рептгено-спектральном микроанализе. Ц. Хельгессон...... 168
12. Неопределенность во введении поправки на поглощение.
X. Якоеиц, К. Гейнрих............... 179
13. Таблицы коэффициентов поглощения для рентгеновского микроанализа. И. А длер, Дж. ГолЭстейн .... 1 98
14. Массовые коэффициенты поглощения рентгеновских лучей. Г. Хьюз, Дж. Bydxaya........... 203
15. Флуоресцентное излучение от толстых и тонких мишеней. В. Хинк.................... 212
1* Я
16. Неопределенность во введении поправки на флуоресценцию. К. Гейнрих, X. Яковиц............ 223
17. Рентгеновская флуоресценция, возбужденная тормозным спектром электронов. Ж. Энок............ 235
18. Количественный рентгеноспектральный микроанализ сложных сплавов. Цж. Белк............. 248
19. Метод анализа тонких пленок. Д. Маршалл, Т. Холл . 260
20. Пространственное разрешение при рентгеновском микроанализе. С. Рид................... 269
21. К вопросу об измерении линейного разрешения при рентгеновском микроанализе. Т. Хеенкамп...... 288
22. Влияние изменения длины волны, обусловленного химической связью, на результаты количественного рентге-носпектрального анализа. Ц. Коффман, С. Молл,
Д ж. Нортон.................... 297
23. Микроанализ с помощью анализа энергии электронов электронной спектроскопией. X. Ватанабе....... 304
Примечание при корректуре............... 310
ПРЕДИСЛОВИЕ РЕДАКТОРА ПЕРЕВОДА
Локальный рентгеноспектральный метод исследования и анализа химического состава в микрообъемах вещества зародился более 20 лет назад одновременно и независимо во Франции и в СССР. В настоящее время метод получил мировое признание и практически сейчас нельзя назвать область науки и техники, где бы он не применялся для решения фундаментальных и прикладных задач.
Уже состоялось шесть международных конференций, посвященных вопросам оптики рентгеновских лучей и локальному рентгеноспектральному анализу, созываемых раз в три года. С 1962 г. во Франции и США проходят ежегодные, а в СССР один раз в два года (с 1960 г.) совещания, посвященные методам локального анализа и его применениям.
Число работающих установок —• рентгеновских микроанализаторов — также растет из года в год. В США, например, в 1971 г. находилось в постоянной эксплуатации до 250 таких установок. Более десятка фирм Франции, Англии, Японии и США производят микроанализаторы средней стоимостью 90 тыс. долларов каждый.
Можно смело утверждать, что области применения микроанализа и производство микроанализаторов будут расширяться, по крайней мере в течение ближайших 40—50 лет.
Бурный рост сравнительно молодого метода исследования химического состава в микрообъемах вещества, очевидно, говорит о больших, еще не исчерпанных возможностях метода, о важности получаемой с его помощью информации, которую невозможно получить с помощью других физических методов исследования. Исключительно высокий темп развития метода и все расширяющиеся области его применения приводят не только к важным в научном и практическом отношении результатам, но также к Ряду неизбежных отрицательных явлений, к попыткам переоценки его возможностей, к неправильному истолкованию получаемых при его помощи результатов<
б

Цена: 100руб.

Назад

Заказ

На главную страницу

Hosted by uCoz