Часть первая ТЕОРИЯ СТРУКТУРЫ КРИСТАЛЛОВ Е. С. ФЕДОРОВА
Глава I. Основные понятия и термины из теории симметрии и структуры кристаллов
§ 1. Значение работ Е. С. Федорова........... 5
§ 2. Структура кристалла и структурный тип........ 5
§ 3. Вид симметрии кристалла............ 6
§ 4. Кристаллическая решетка............ 7
§ 5. Решетки Бравэ............... 8
§ 6. Кристаллический многогранник и решетка кристалла..... 10
9 7. Структура кристалла и решетка кристалла........ 11
§ 8. Индексы точек, прямых и плоскостей решетки....... 13
Параметры решетки (13). Индексы точки (13). Индексы узловых рядов (14). Индексы узловых сеток (14)
Глава II. Элементы симметрии кристаллических структур
§ 1. Плоскости скользящего отражения......... 16
§ 2. Винтовые оси...... ......... 17
§ 3. Перечень элементов симметрии........... 18
§ 4. Пространственная и точечная группы симметрии...... 20
Глава III. Схематический вывод примитивных пространственных групп симметрии для одного из видов симметрии
§ 1. Вводные замечания.............. 22
§ 2. Возможные сочетания плоскостей симметричности...... 22
§ 3. Сложение плоскостей симметричности с трансляцией..... 24
§ 4. Равнодействующие оси симметричности, появляющиеся в результате
сложения плоскостей симметричности.......... 26
§ 5. Выбор начала координат............. 27
Глава IV. Схематический вывод непримитивных пространственных групп для ромбо-пирамидального вида симметрии
§ 1. Базоцентрированные пространственные группы....... 29
§ 2. Бокоцентрированные пространственные группы....... 30
§ 3. Гранецентрированные пространственные группы...... 31
§ 4. Объемноцентрированные пространственные группы...... 34
Глава V. Правильные системы точек
§ 1. Основные понятия...............35
§ 2. Кратность и значность точек...........36
§ 3. Степени свободы точек.............37
485
§ 4. Число частных и общих правильных систем точек в структуре . . 37
§ 5. Правильные системы точек и решетки Бравэ....... 38
§ 6. Изображение правильных систем точек......... 40
§ 7. Запрещенные значения координат.......... 41
Глава VI. 230 пространственных групп симметрии
§ 1. Классификация пространственных групп симметрии..... 42
§ 2. Список пространственных групп........... 42
§ 3. Выбор важнейших групп............. 48
§ 4. Таблица важнейших пространственных групп....... 49
Часть вторая
РЕНТГЕНОВСКИЕ ЛУЧИ И КРИСТАЛЛЫ Глава VII. Получение рентгеновских лучей
§ 1. Рентгеновские трубки.............119
Введение (119). Электронные рентгеновские трубки (119) Ионные рентгеновские трубки (124)
§ 2. Рентгеновские аппараты.............125
Цепь высокого напряжения (126). Цепи накала (131). Пусковая цепь и вспомогательные устройства (131). Расположение аппаратуры в лаборатории (133). Типы рентгеновских аппаратов для структурного анализа, выпускаемые в СССР (133)
Глава VIII. Физика рентгеновских лучей
§ 1. Природа рентгеновских лучей...........135
Общие свойства рентгеновских лучей (135). Разрешение вопроса о природе рентгеновских лучей (136). Электромагнитные волны (137)
§ 2. Рентгеновские спектры.............139
Сплошной спектр рентгеновских лучей (140). Характеристический спектр рентгеновских лучей (142)
§ 3. Рассеяние и поглощение рентгеновских лучей.......148
Процессы, сопровождающие прохождение рентгеновских лучей через вещество (148). Когерентное рассеяние (148). Аномальное когерентное рассеяние (148). Некогерентное рассеяние (151). Поглощение (151). Закон ослабления интенсивности рентгеновских лучей при прохождении через вещество (153). Расчет коэффициента ослабления (154). Коэффициент поглощения (155). Выбор излучения (157). Фильтры (158)
§ 4. Регистрация рентгеновских лучей..........158
Введение (158). Фотографическое действие рентгеновских лучей (159). Ионизационное действие рентгеновских лучей (165). Измерительные схемы при регистрации рентгеновских лучей счетчиками (171)
Глава IX. Дифракция рентгеновских лучей при прохождении через кристалл
§ 1. Введение.................175
Понятие об интерференции (175). Понятие о дифракции (177). Два аспекта дифракционного эффекта в кристалле (179)
§ 2. Дифракционный эффект, создаваемый «решеткой» одинаковых атомов 180 Качественное описание (180). Условия Лауэ (182). Количество дифракционных лучей (184). Методы получения дифракционной картины (185)
§ 3. Дифракция как отражение............186
§ 4. Дифракция в сложной кристаллической структуре......189
Глава X. Геометрия дифракционной картины при различных методах съемки
§ 1. Общие принципы конструкции рентгеновских камер.....192
§ 2. Метод вращения...............195
Общая схема метода вращения (195). Слоевые линии (197). Расстояния
между слоевыми линиями (198). Симметрия в расположении пятен (200)
§ 3. Неоднозначность расшифровки рентгенограммы вращения. Переход
к методу качания и рентгенгониометрическому методу.....202
§ 4. Метод качания...............205
§ 5. Методы развертки слоевых линий (рентгенгониометрические методы) 207
§ 6. Дифрактометрический метод............211
§ 7. Полихроматический метод (метод Лауэ)........214
Длины волн дифрагированных лучей (215). Зональные кривые (216).
Симметрия лауэграМм (219). Недостатки и достоинства метода
Лауэ (220) § 8. Метод порошка (метод Дебая—Шеррера)........221
Применение дифрактометра (225)
Часть третья
ПЕРВЫЙ ЭТАП СТРУКТУРНОГО АНАЛИЗА (исследование симметрии и типа решетки кристалла)
Введение
§ 1. Этапы структурного анализа...........231
§ 2. Задачи первого этапа исследования..........231
Глава XI. Задачи, решаемые без индицирования рентгенограмм (определение размеров ячейки, типа решетки и дифракционного класса
кристалла)
§ 1. Определение размеров элементарной ячейки и типа решетки . ^ . 234 Определение периодов идентичности (234). Определение размеров элементарной ячейки и числа молекул в ячейке (235). Определение трансляционной группы (237). Юстировка кристалла в камерах вращения— качания (242). Камеры для определения периодов идентичности (244)
§ 2. Определение точечной группы симметрии по симметрии рентгенограмм 249 Дифракционная симметрия (249). Закон центросимметричности (закон Фриделя) (250). Возможность определения точечной группы симметрии кристалла (253). Определение класса дифракционной симметрии по закономерностям расположения пятен на рентгенограммах (255)
Глава XII. Правила погасаний дифракций и пространственная группа
симметрии кристалла
§ 1. Введение................ 259
§ 2. Индексы серий узловых сеток и дифракционные индексы в примитив
ных и непримитивных решетках
259
Индексы серии узловых сеток (259). Дифракционные индексы (261)
§ 3. Преобразование дифракционных индексов при переходе от одной ко
ординатной системы к другой...........264
Преобразование координатных осей (264). Преобразование индексов сеток и дифракционных индексов (265). Переход от непримитивных решеток к примитивным (266)
§ 4. Погасания, обусловленные непримитивностью решеток.....268
Центрированные решетки (268). Гексагональная и ромбоэдрическая решетки (269). Погасания при неправильно выбранных координатных осях (274)
§ 5. Правила погасаний, характеризующие присутствие винтовых осей и
плоскостей скользящего отражения..........276
Погасания, вызываемые винтовыми осями (278). Возможные направления винтовых осей (279). Погасания, вызываемые плоскостями скользящего отражения (280). Возможные положения плоскостей скользящего отражения (283)
§ 6. Определение пространственной группы симметрии.....286
Неоднозначность определения пространственной группы (286). Таблица дифракционных групп (301)
§ 7. Псевдосимметрия и псевдопогасания . .......304
Псевдосимметрия (304). Псевдопогасания (304).......
Глава XIII. Индицирование рентгенограмм. Определение пространственной группы симметрии кристалла
§ 1. Обратная решетка..............307
Определение понятия обратного изображения (307). Координатная система обратного изображения (309). Обратное изображение и обратная решетка (310). «|.Р|г-тело» (314).
§ 2. Некоторые формулы структурной кристаллографии......315
Триклинная сингония (316). Ромбоэдрическая решетка (318). Моноклинная Сингония (319). Гексагональная сингония (320). Ромбическая сингония (321). Тетрагональная сингония (321). Кубическая сингония (321)
§ 3. Интерференционное уравнение и сфера отражения.....322
§ 4. Обратная решетка и расположение пятен на рентгенограмме вращения 325 Общее описание (325). Интерференционные кривые (328)
§ 5. Индицирование рентгенограмм вращения........333
Общие соображения (333). Первый этап индицирования (335). Второй этап индицирования (338)
§ 6. Пример определения пространственной группы кристалла по рентгенограммам вращения..............340
§ 7. Индицирование рентгенограмм качания........343
Неоднозначность индицирования рентгенограмм вращения (343). Серия рентгенограмм качания (344)
§ 8. Интерпретация и Индицирование рентгенограмм, снятых по методу
рентгенгониометра Вейсенберга...........348
Расположение пятен при развертке нулевой слоевой линии (348). Расположение пятен на вейсенбергограммах ненулевых слоевых линий, полученных по схеме перпендикулярного пучка (354). Недостатки схемы перпендикулярного пучка. Построение сетки обратной решетки по координатам пятен (357). Расположение пятен на вейсенбергограммах ненулевых слоевых линий, полученных по равнонаклонной схеме (358). f Индицирование вейсенбергограмм (361). Связь между цилиндрическими координатами узлов и направлением дифракционного луча в общем случае (ц ?=v=f 0) (366).
§ 9. Методы неискаженного проектирования сеток обратной решетки . . 367 Введение (367). Метод фотографирования обратной решетки (368). Интерпретация рентгенограмм (369). Схема «постоянного конуса» (371). Прецессионный рентгенгониометрический метод. Нулевая слоевая линия (373). Ненулевые слоевые линии (376)
§ 10. Дифрактометрический метод...........378
Нулевая слоевая линия (378). Методы послойной регистрации отражений (379). Автоматические дифрактометры (381). Методы порядной регистрации отражений (383). Монокристальная приставка к дифракто-метру УРС-50И (387). Формулы для определения установочных параметров отражений (389)
Глава XIV. Определение ориентации кристалла по лауэграммам при исследовании неогранных кристаллических обломков и уточнение юстировки кристаллов
§ 1. Введение..................392
§ 2. Закономерности дифракционной картины, получаемой по полихроматическому методу...............392
Описание полихроматического метода при помощи обратной решетки (392). Закономерности расположения пятен на лауэграммах (394). «Важные» узловые ряды и «важные» узловые сетки (396)
§ 3. Определение ориентации кристалла.........403
Построение стереографической проекции по лауэграммам (403). Анализ стереографической проекции (408). Юстировка кристалла (412)
• § 4. Уточнение юстировки кристалла..........416
Связь между наклоном кристалла и угловыми перемещениями гониометрической головки (417). Предварительная доюстировка кристалла (419). Уточнение юстировки по лауэграммам при наличии плоскости симметрии, перпендикулярной оси вращения (420). Уточнение юстировки по лауэграммам или рентгенограммам качания (общий случай) (421). Уточнение юстировки в дифрактометре УРС-50И (428). Уточнение юстировки кристалла вдоль первичного пучка (429)
Глава XV. Определение размеров элементарной ячейки, типа решетки
и пространственной группы симметрии при исследовании
кристаллического порошка
§ 1. Введение.................430
§ 2. Систематические ошибки при оценке углов отражения.....431
Погрешность при измерении расстояний на пленке (433). Погрешность, вносимая поглощением лучей (435). Погрешность эксцентриситета (437). Погрешность в определении эффективного радиуса кассеты (438). Сум-
Цена: 200руб.
