Сборник предназначен для научных и инженерно-технических работников, занимающихся вопросами рентгеновского анализа и рентгеновской спектроскопией.
СОДЕРЖАНИЕ
Бахтиаров А. В. Возможности способа стандарта-фона в рент-
геноспектральном флуоресцентном анализе...........• ;
Мартынова Н. Ф., Кудряшева Л. Г., Ревенко А. Р. Применение рентгеноспектрального метода для аттестационного анализа стандартных образцов медных сплавов ЛС и БрКМц ... 1J
Куликов Е. Т., Штауберг И. Ф. Определение содержания молибдена в вольфрамовом покрытии локальным рентгенофлуо-ресцентным методом..................... 2С
Т а р ц м а н К. Г., Дедегкаев Т. Т. Использование математической статистики при обработке результатов исследования однородности твердых растворов методом рентгеноспектрального микроанализа .......................... 23
МиркинА. Е., ТомашпольскийЮ. Я. Применение микрозонда «Камебакс» для определения дефицита кислорода в сложных окислах.......................... 2'
БуровинаИ.В.,ПивовароваН. Б.,ПогореловА. Г., Сидоров А. Ф., Чмыхова Н. М. Рентгеновский микроанализ при исследовании биологических объектов......... ЗЕ
Гоганов Д. А., Риманов В. П., СиухинА. Р., Нови-к о в С. Р., Седов Н. Я., П у с т о в о и т А. К.,, М а з у-р и к Н. П. Полупроводниковый рентгеновский спектрометр для электронно-зондовых приборов ................ 6С
К ом як Н. И., Гоганов Д. А., Гиманов В. П., Новиков С. Р., Холодова Л. А., Богданов А. Г. Рентгеновский спектрометр с 81(Ы)-детектором............. 65
РостомянА. Г., НариманянС. М., БезирганянП. А., Ростомян А. А. Рентгеновский спектрограф с многократным отражением по Брэггу.................... 7С
Береза В. Ш. Рентгеновская трубка как объект взаимосвязанного регулирования двух параметров........... 77
Б е р е з а В. Ш., Б у х м а н И. Р., Э т и н г е н Б. А. Система автоматической взаимоблокировки в рентгеновском генераторе с двумя трубками .......................... 84
ГлушанокЮ. В., Хатапова Р. М., Ведерников Ю. Н. Источник рентгеновского излучения с вращающимся анодом АРТВА-5,0......................... 87
ВЛЯПИМИПОВВ. П.. KvaiTATT-nnd). И.-ПфЯПП-ттипП ТТ
Старчиков А. Н. Тиристорный стабилизатор переменного
напряжения ........................ 94
Плотников Р. И., Комков Б. Г., МаренковО. С. Эффективные сечения взаимодействия фаз с рентгеновским излучением 99 М а р е н к о в О. С., Комков Б. Г. Интерполяционная формула для вычисления атомных фотосечений рентгеновских и гамма-квантов. Область энергии Е sg EK................ 103
Эдельштейн Г. В., Лукьянченко Е. М., Таганце-в а А. П. Фактор обратного рассеяния при произвольном угле падения электронов на образец .................. 116
Грешнякова Н. С., Алексеев В. Г., Егоров В. Н., ИвероноваВ. И., КацнельсонА. А.,СапковаИ. Г. Рентгенографический метод определения толщины поликристаллических деформированных слоев................ 122
ШишлянниковаЛ. М. К выводу распределений интенсивности от угла дифракции, обусловленных дисперсностью областей когерентного рассеяния рентгеновского излучения и неоднородностью
периода решетки кристалла................. 127"
Гпманов В. П., Гоганов Д. А., В а з и н а А. А., М а т ю -ш и н А. М., Шелестов В. М., КулипановГ. И. Энергодисперсионная дифрактометрия биологических объектов с использованием синхротронного излучения............. 134'
БекреневА. Н., КольчугинН. А.,ТерминасовЮ. С. Использование коллимации по Банэри для определения размеров
субмикроскопических частиц........'......... 14СЬ
КуроленкинЕ. И., ВиргильевЮ. С. Метод комплексного учета отклонений от закона Порода при расчете параметров надмолекулярной упаковки частично кристаллических полимеров
и углеродных материалов................... 145.
ШулаковЕ. В., Аристов В. В. Анализ топографического разрешения в методе углового сканирования............ 151
СМЫСЛОВЕ. Ф,, Давыдов Г. В., Смыслова Е. П. Методика рентгеновского исследования субструктуры с использованием функции Лауэ.......................... 161
Васильев Д. М., Иванов С. А. Дифракция в расходящемся
пучке рентгеновских лучей, кинематическое приближение .... 165 Нагорная Л. Л., Строилова Д. Л., Ткаченко В. Ф. Дифрактометрическое определение углов дезориентации блоков
в кристаллах Nal(Tl).................... 178
П а р ш у к П. М., Понятенко Н. А. Локальный анализ кривых интенсивностей при расшифровке рентгеновских дифрактограмм
жидкостей аморфных и кристаллических тел.......... 182
Плавник Г. М., Зефирова В. Л. Нахождение распределения параллелепипедов по размерам методом малоугловой рентгенографии.......................... 186
КотляровЯ.Б.,ПлотниковР. И..Сербии А. Я. Построение и использование статистических уравнений связи в рентгено-спектра льном флуоресцентном анализе............ 191
АнтошульскийА. Г.,НахмансонМ. С.,ЧерныйЮ.А, Шульмейстер В. М. Алгоритм индицирования узлов обратного пространства кристалла при проведении исследовании на координатном дифрактометре .................. 211
Бадин В. Г., Верховский Г. С., Евграфов А. А., Коми к Н. И., Нахмансон М. С., Хейкер Д. М. Автоматический дифрактометр для исследования поликристаллов ДАРП-УМ, управляемый ЭВМ М-6000.................. 216
Советникова В. Г., ЗубенкоВ. В. Расчет параметров элементарной ячейки решеток средних сингоний по порошкограммам 227
КировС. А., ХатановаН. А., Захарова М. И. Метод построения теоретических рентгенограмм неподвижных кристаллов с рефлексами а-фазы, выделяющейся в Ti и Zr сплавах..... 233
Гоганов Д. А., Мясников Ю. F., Плотников Р. И, Информация о 4-м Международном конгрессе по рентгеновским методам анализа....................... 238
Рефераты на статьи сборника «Аппаратура и методы рентгеновского
анализа» вып. 21......................... 244
Цена: 150руб.
