Справочник содержит данные, необходимые для выбора методики получения и расчета рентгенограмм полнкристаллн-чески.х тел. Приведены таблицы и графики, предназначенные для решения как общих, так и ряда специальных задач рент-гсноструктурного анализа поликристаллов.
Справочник предназначен для работников рентгеновских лабораторий научно-исследовательских институтов п промышленных предприятий, а также может быть полезен физикам, инженерам различного профиля и студентам специальностей, связанных с изучением структуры материалов.
СОДЕРЖАНИЕ
Предисловие редактора............................. Ю
От автора................................... J2
РАЗДЕЛ 1 ОБЩИЕ МЕТОДЫ РЕНТГЕНОСТРУКТУРНОГО АНАЛИЗА
Глава 1. Взаимодействие рентгеновских лучей с веществом и рентгеновские спектры
t-!. Характеристическое рентгеновское излучение...............
J-Ia. Длины волн К-серии рентгеновского излучения (15). 1-16. Длины волн L-серии рентгеновского излучения (18,19). 1-1в. Относительные интенсивности линий /(-серии характеристического спектра (22). 1-1г. Ширина лшшй характеристического спектра (22). 1-1д. Индексы асиммётршГ линии характеристического спектра (23). ' "' "
1-2. Перевод /ЬХ-единиц в абсолютные ангстремы .............. 2,'>
1-3. Соотношения между единицами коэффициентов поглощения........ 24
1-4. Рассеяние рентгеновских лучей...................... 24
1-!а. Рассеяние рентгеновских лучей различных энергий электронными оболочкам!) н ядрами атомов (24). 1-46. Рассеяние рентгеновских лучей в газах (25). 1--1и. Массовые коэффициенты рассеяния рентгеновских лучей (25). 1--1г. Массовые коэффициенты рассеяния о';/о (26). 1-4д. Коэффициенты рассеяния ov, (27). J-le. Сечения нгкогерептного рассеяния рентгеновских лучей (27).-'
1-5. Поглощение рентгеновских лучей.................... 28
1-5а. Скачок поглощения' для некоторых элементов (28). 1-56. Вычисление коэффициентов поглощения (28). 1-5в. Номограмма для определения коэффициентов поглощения (30).
1 6 Суммарное ослабление рентгеновских лучей............... 31
1-6а. Атомные коэффициенты ослабления для элементов (31). 1-66. Массовые коэффициенты ослабления н/о для элементов (33). 1-6в. Массовые коэффициенты ослабления ii/о для больших длин волн (36). 1-6г. Массовые коэффициенты ослабления и/о для малых длин воли (36). 1-6д. Массовые коэффициент):1 слаблелия р.,'о д..чя некоторых соединений (37). 1-6е. Толщина слоя половинного ослабления рентгеновских лучей для некоторых этсмеитоо (37). 1-й/к. Толщина слоя половинного ослабления •
при различных углах падения лучей на образец (38).
1-7. Ионизирующее действие рентгеновских лучей.............. 40
1-8. Преломление рентгеновских лучей.................... 41
1-8а. Единичные декременты показателя преломления (•')• 1-86, Углы полного внутреннего отражения (42).
Г л а в а 2. Получение и измерение рентгенограмм ................
2-1. Оборудование рентгеновских лабораторий................
2-2. Получение сфокусированных линий................... 66
2-3. Методы исследования превращений и состояния кристаллической решетки
при высоких и низких температурах .................. 69
2-4. Фотографический метод регистрации.................. 71
2-4а. Режимы съемки рентгенограмм некоторых материалов (71). 2-46. Номограмма для установки рентгеновских камер обратной съемки (72). 2-4в. Номограмма для установки рентгеновских камер экспрессной съемки (72).
2-5. Ионизационный метод регистрации................... 73
2-5а. Свойства счетчиков излучения (73). 2-56. Поглощение рентгеновских лучей в счетчиках Гейгера—Мюллера (76). 2-5в. Эффективность различных типов счетчиков излучения (76).
2-6. Селективно-поглощающие фильтры................... 77
2-7. Характеристики кристаллов-монохроматоров............... 77
2-7а. Характеристики отражений и свойства кристаллов-монохроматоров (77). 2-76. Отражательная способность крнсталлов-монохромато-ров (79). 2-7в. Оптимальная толщина кристаллов-монохроматоров при съемке на прохождение (79). 2-7г. Свойства плоских кристаллов-монохроматоров (79). 2-7д. Углы отражения для изогнутых кристаллов-монохроматоров (80).
2-8. Параметры съемки с изогнутым кварцевым монохроматором....... 80
2-9. Измерение положения дифракционных линий на рентгенограммах .... 86 2-9а. Определение угла скольжения при съемке на плоскую пленку (86). 2-96. Поправка на нестандартность диаметра рентгеновской камеры (87). 2-9в. Поправка на толщину образца (91). 2-9г. Поправка на эксцентриситет образца в рентгеновской камере (92).
2-10. Измерение интенсивности....................... 93
2-10а. Число импульсов, нужное для получения заданной вероятной ошибки на ионизационной установке (93). 2-1С6. Поправка на статистическую ошибку счета (93). 2-10в. Поправка на размер частиц для неподвижного образца (94). 2-10г. Поправка на размер частиц при вращении образца (95). 2-1 Од. Поправка на просчет счетчика (96).
2-11. Междублетные расстояния....................... 97
2-12. Некоторые данные для расчета лауэграм_м............... 98
2-12а. Сетка для расчета лауэграмм, снятых методом обратной съемки (98). 2-126. Сетка для расчета лауэграмм, снятых на прохождение (100). 2-12в. Вспомогательная таблица для построения проекции кристалла по лауэграмме (102). 2-13. Определение ориентировки крупных кристаллов Б поликристаллпческнх
образцах .........."..................... 103
Г лава 3. Индицирование рентгенограмм .................... 107
3-1. Вспомогательные таблицы........................ 107
З-la. Некоторые сложные тригонометрические функции (107) .3-16. Значения 1/rf2 (158). 3-1в. Значения К, ^ ' ~Т • lg Т ^'96^ 3"'Г' Значення n'k
и \%\Ъ (197).
N 3-2. Символы пространственных групп.................... 204
3-3. Таблицы погасаний для определения рентгеновских групп........ 211
Кубическая система
3-4. Схемы рентгенограмм..................... 223
3-5. Квадратичные формы ......................... 223
3-6. Графики для иидицирования рентгенограмм.............. 240
3-7. График для определения принадлежности материала к кубической системе 250 3-8. Предельные значения суммы квадратов индексов для различных объемов
Структурны и мп о ж и т с л ь
4-9. Вспомогательная таблица для вычисления структурных множителей . . . 355
4-10. Номограмма для расчета структурных амплитуд............ 360
4-11. Расположение атомов в некоторых типах кристаллических структур. . . 361 4-12. Структурные амплитуды для некоторых пространственных групп кубической системы...........................
4-13. Структурные амплитуды для некоторых типов структур кубической системы •1-14. Структурные амплитуды для некоторых пространственных групп тетрагональной системы.........................
4-15. Структурные амплитуды для некоторых пространственных групп гексагональной системы...........................
4-16. Структурные амплитуды для некоторых типов структур гексагональной
системы..............................
4-17. Температурный множитель интенсивности...............
4-17а. Функция Дебая (388). 4-176. Значения температурного множителя при различных значениях В и '§(389). 4-Г/в. Функции е'х л lg e~x (390). 4-17г. Значения постоянного коэффициента В' в выражении для температурного множителя (392). 4-18. Множители повторяемости для различных кристаллических систем . . . 392
А б с о р б ц п о п н ы и м п о ж и т с л ь
4-19. Абсорбционный множитель для цилиндрических образцов........ 393
4-19а. Абсолютные значения для однородных образцов (393). 4-196. Относительные значения для однородных образцов (394). 4-19в. Абсолютные значения для образцов из порошка, наклеенного на пить (395).
4-20. Абсорбционный множитель для плоских образцов........... 398
4-21. Абсорбционный множитель для сферических образцов......... 407
4-21а. Абсолютные значения (407). 4-216. Относительные значения (409).
4-22. Абсорбционный множитель для дисперсных порошков, смешанных со
связкой................................ 409
РАЗДЕЛ П
НЕКОТОРЫЕ СПЕЦИАЛЬНЫЕ ЗАДАЧИ И МЕТОДЫ РЕНТГЕНОСТРУКТУРНОГО АНАЛИЗА
Глава 5. Фазовый анализ........................... 413
5-1. Методы фазового анализа........................ 413
5-1а. Качественны!! фазовый анализ (413). 5-16. Методы количественного
фазового анализа с измерением интенсивности (114).
5-2.._1\рпсталлическая структура элементов н соединений........... 417
5^.3^_Межплоскостпыс расстояния п интенсивности линий на рентгенограммах
элементов и соединений .........................
5-4. Таблицы для фазового анализа изоморфных соединении.........
5-4а. Кристаллы кубической системы (С64). 5-46. Кристаллы тетрагональной
системы (573). 5-4ц. Кристаллы гексагональной системы (593).
5-5. Метод гомологических пар....................... 635
5-5а. Гомологические, пары для определения количества ауетсппта в сталях (635). 5-56. Гомологические пары для количественного фазоного анализа двухфазных латупей (636). Б-5в. Гомологические пары для анализа окисления стали (636).
5-6. Метод наложения.........................• . •. 636
5-7. Пересчет весовых процентов в атомные................. 637
! 'л а в а 6. Прецизионное определение периодов кристаллической решетки .... 642 6-1. Особенности прецизионных методов измерения периодов кристаллической
решетки................................ 642
6-1а. Применение метода асимметричной съемки (643). 6-16. Съемка на больших расстояниях в расходящемся пучке лучей (646). 6-1в. Метод, съемки с
Цена: 500руб.
