Математика | ||||
Мирский Г. Я. Электронные измерения: 4-е изд., перераб. и доп. —> М.: Радио и связь, 1986. — 440 с., ил. В пер.: 1 р. 90 к. 30000 экз. Излагаются методы электронных измерений, принципы построения аппаратуры и вопросы ее применения. В отличие от предыдущего издания (1975 г.) рассматриваются новые методы измерений и структуры современных приборов, использование микропроцессоров и микро-ЭВМ в средствах измерений, методы тестирования цифровых схем и микропроцессорных систем, принципы построения автоматических измерительных систем и системных интерфейсов. Более подробно излагаются погрешности измерений и измерительных приборов. Для инженерно-технических работников, использующих и разрабатывающих измерительную технику, может быть рекомендована студентам вузов. | ||||
ОГЛАВЛЕНИЕ Стр. Предисловие к четвертому изданию..........р -„ з Глава первая. Общие вопросы измерений........ 5 1.1. Объекты электронных измерений......... 5 1.2. Основные определения и терминология........ 6 1.3. Погрешности измерений и измерительных приборов .... 11 1.4. Классификация и обозначения приборов....... 32 1.5. Общие характеристики измерительных приборов..... 32 1.6. Выбор измерительного прибора.......... 34 Глава вторая. Применение микропроцессоров в измерительных приборах.................. 37 2.1. Краткие сведения о микропроцессорах и микропроцессорных системах .............. ... 37 2.2. Функции, выполняемые микропроцессорами в измерительных приборах ................. 43 2.3. Улучшение метрологических характеристик приборов .... 47 2.4. Условия применения микропроцессоров и факторы, его ограничивающие ................ 51 Глава третья. Исследование формы напряжения...... 54 3.1. Общие сведения.............. 54 3.2. Общая структурная схема электронно-лучевого осциллографа и принцип получения изображения сигнала . .*..... 55 3.3. Виды осциллографических разверток........ 58 3.4. Основные каналы электронно-лучевого осциллографа . . . . 63 3.5. Синхронизация развертки........... 71 3.6. Измерение параметров исследуемых сигналов...... 74 3.7. Двухканальные и двухлучевые осциллографы...... 3.8. Стробоскопические осциллографы........ . 80 3.9. Запоминающие осциллографы.......... 85 3.10. Осциллографы, содержащие микропроцессор ..'.... 88 3.11. Осциллографы с нетрадиционными устройствами отображения информации............... 94 3.12. Рекомендации по выбору осциллографа....... 100 Глава четвертая. Измерение интервалов времени, частоты и фазовых сдвигов................ 104 4.1. Общие сведения............. 104 4.2. Методы временных разверток.......... 106 4.3. Измерение интервалов времени методом дискретного счета . . 111 4.4. Измерение частоты методом дискретного счета..... 120 4.5. Микропроцессорные цифровые частотомеры...... 4.6. Гетеродинный метод............. 133 438 Стр. 4.7. Широкодиапазонные частотомеры......... 135 4.8. Методы сравнения с частотой другого источника посредством осциллографа.............. 138 4.9. Меры частоты.............. 140 4.10. Измерение фазового сдвига методом, основанным на преобразовании в интервал времени между импульсами..... 142 4.11. Нулевой метод.............. 150 4.12. Расширение частотного диапазона фазометров..... 151 Глава пятая. Измерение напряжений......... 152 5.1. Общие сведения.............. 152 5.2. Параметры напряжений переменного тока...... 153 5.3. Структурные схемы и принцип действия аналоговых электронных вольтметров............. 156 5.4. Преобразователи электронных вольтметров...... 159 5.5. Усилители и показывающие приборы стрелочных вольтметров 169 5.6. Особенности вольтметров импульсного тока...... 171 5.7. Зависимость показаний вольтметра от формы напряжения . . 172 5.8. Цифровые вольтметры. Общая характеристика..... 176 5.9. Цифровые вольтметры с жесткой логикой.......184 5.10. Программируемые цифровые вольтметры....... 194 5.11. Микропроцессорный время-импульсный вольтметр .... 205 Глава шестая. Измерение мощности......... 208 6.1. Общие сведения.............. 208 6.2. Измерение мощности в диапазонах низких и высоких частот . . 209 6.3. Общая характеристика методов измерений и приборов диапазона СВЧ...... . . ,......... 211 6.4. Метод, основанный на измерении изменения сопротивления терморезистора ................ 212 6.5. Термоэлектрический метод........... 221 6.6. Калориметрический метод........... 222 6.7. Измерение импульсной мощности......... 223 Глава седьмая. Измерения спектральных характеристик сигналов 225 7.1. Общие сведения.............. 225 7.2. Основные определения и классификация спектров..... 226 7.3. Аналоговые фильтровые анализаторы спектра...... 230 7.4. Особенности спектрального анализа случайных процессов . . . 240 7.5. Цифровые анализаторы спектра. Общая характеристика . . . 244 7.6. Цифровые анализаторы с аналоговой избирательной системой 245 7.7. Микропроцессорный анализатор, работающий по алгоритму БПФ 253 7.8. Измерение коэффициента гармоник......... 260 Глава восьмая. Измерение характеристик случайных процессов . . 263 8.1. Общие сведения.............. 263 8.2. Особенности измерений характеристик случайных процессов . . 264 8.3. Оценки характеристик............ 267 8.4. Общие сведения о статистических погрешностях измерений . . 268 8.5. Измерение среднего значения......... . 269 8.6. Измерение средней мощности и дисперсии....... 276 8.7. Измерение корреляционных функций........ 287 8.8. Анализ распределения вероятностей........ 299 8.9. Применение микропроцессоров в средствах измерения характеристик случайных процессов........... 304 Глава девятая. Измерение параметров компонентой цепей с сосредоточенными постоянными и характеристик СВЧ трактов .... 308 9.1. Общие сведения.............. 308 9.2. Мостовые методы измерения сопротивления резистора, емкости Стр. конденсатора, индуктивности катушки........ 309 9.3. Резонансные методы измерения параметров линейных компонентов 311 9.4. Измерение параметров линейных компонентов цифровыми методами ................. 315 9.5. Измерители амплитудно-частотных характеристик четырехполюсников ................. 321 9.6. Измерение полных сопротивлений СВЧ элементов измерительной линией................ 325 9.7. Измерение полных сопротивлений рефлектометром..... 331 Глава десятая. Тестирование цифровых схем и микропроцессорных систем.................. 338 10.1. Общие сведения.............. 338 10.2. Логический анализ............. 339 10.3. Сигнатурный анализ............ 351 10.4. Тестеры для цифровых устройств......... 363 10.5. Принципы самотестирования.......... 365 Глава одиннадцатая. Измерительные генераторы сигналов . . 369 11.1. Общие сведения............. 369 11.2. Аналоговые низкочастотные генераторы....... 371 11.3. Аналоговые инфранизкочастотные генераторы..... 375 11.4. Аналоговые высокочастотные генераторы...... 376 11.5. Цифровые генераторы низкочастотных и инфранизкочастотных сигналов............... 379 11.6. Генераторы импульсных сигналов . ....... 385 11.7. Генераторы сигналов специальной формы...... 388 11.8. Генераторы, программно-управляемые микропроцессорной системой ................. 391 11.9. Генераторы шумовых сигналов......... 395 11.10. Генераторы псевдослучайных сигналов . ....... 400 Глава двенадцатая. Автоматизация измерений..... 403 12.1. Основные направления............ 403 12.2. Агрегатный принцип построения измерительных систем . . . 404 12.3. Общие сведения об интерфейсах......... 406 12.4. Системно-приборный цифровой интерфейс МЭК..... 408 12.5. Особенности приборов системного назначения..... 415 12.6. Программируемые мультиметры......... 417 12.7. Полностью программно-управляемый осциллограф . 420 12.8. Пример измерительной системы на основе интерфейса МЭК . . 428 Список литературы............... Предметный указатель.............. 436 Цена: 150руб. |
||||