Книга рассчитана на работников спектральных лаборатории промышленности.
ПРЕДИСЛОВИЕ
В настоящее время контроль химического состава материалов в промышленности осуществляется главным образом фотографическими методами спектрального анализа. Однако эти методы в ряде случаев не обеспечивают необходимой точности анализа. Кроме того, не всегда удается получить данные анализа в нужные сроки.
Значительная часть ошибок фотографических методов анализа является результатом неоднородности эмульсии фотопластинки, нестабильности процесса проявления и фиксирования и т. д. Замена фотографического процесса фотоэлектрической регистрацией спектра открывает новые возможности в совершенствовании техники спектрального анализа, значительном повышении его быстроты и точности. Фотоэлектрические методы спектрального анализа с использованием многоканальных квантометров в ближайшем будущем будут основными, методами контроля материалов.
Для правильной организации работ на квантометре и возможности получения результатов анализа с необходимой точностью на каждом предприятии, где предполагается организация фотоэлектрической лаборатории, должно быть построено или оборудовано специализированное помещение, изолированное от колебаний внешней .температуры и обеспеченное специальным заземлением и установкой для кондиционирования воздуха. Несоблюдение требований, обеспечивающих нормальную работу фотоэлектрической установки, неизбежно повлияет на качество ее работы и результаты анализа.
Сотрудники фотоэлектрической лаборатории должны иметь специальное образование и подготовку для обслуживания, повседневного наблюдения и ремонта сложных усилительно-регистрирующих устройств и генераторов, от качества и стабильности работы которых в основном зависит успех этого нового дела.
В настоящем сборнике приводятся результаты анализа алюминиевых, магниевых, никелевых, титановых сплавов и сталей, полу-724 »
СОДЕРЖАНИЕ
Стр. Предисловие............................ 3
К.. А. Сухенко, К. А. Моисеева, И. Г. Тишин, Д. Г. Баканов, Л. Д. Мете-лина, Т. Д. Альтман. Фотоэлектрические методы анализа и их применение для контроля материалов .................. 5
В. К. Прокофьев. Оптические системы фотоэлектрических установок для
эмиссионного спектрального анализа ............... 20
•Ф. И. Филатов. Усилительно-регистрирующие устройства фотоэлектрических спектральных установок................... 32
К. А. Сухенко, Ф. И. Филатов, П. П. Галопов, К. А. Моисеева, Л. Д. Метс-лина. Анализ алюминиевых сплавов на многоканальном квантометре ... 44
Д. Г. Баканов. Анализ титановых сплавов на квантометре ДФС-10 .... 66
К. А. Сухенко, Т. Д. Альтман. Исследование эталонов алюминиевых сплавов фотоэлектрическим методом................. 70
К. А. Сухенко, Ф. И. Филатов, К. А. Моисеева, П. П. Галопов, Л. Д. Mere-лина. Определение бора в никелевых сплавах............. 82
Л. А. Ливанов, В. П. Горохов, Т. И. Голофаев, В. П. Малявкина. Анализ
алюминиевых сплавов на квантометре ARL............. 87
Цена: 150руб.
