В пер.: 1 р. 30 к.
Обобщен опыт разработки методов и средств измерения и контроля параметров цифровых интегральных микросхем (ИС). Рассматриваются различные классы цифровых ИС и их характеристики. Излагаются методы измерения статических и динамических параметров, функционального контроля цифровых ИС, принципы построения средств измерения и контроля.
Для инженерно-технических работников — разработчиков цифровых ИС и аппаратуры на их основе, а также для специалистов по метрологическому обеспечению выходного и входного контроля ИС.
ПРЕДИСЛОВИЕ
Разработка, и производство цифровых ИС, чрезвычайно разнообразных по выполняемым функциям, электрическим параметрам и областям применения, требует создания высокоэффективных методов и средств измерения их статических и динамических параметров и проведения функционального контроля.
С увеличением степени интеграции ИС и созданием больших и сверхбольших ИС функциональный контроль становится определяющим видом контроля цифровых БИС. В связи с этим ставится задача создания универсальных средств измерения электрических параметров и функционального контроля, обладающих высокими точностью и производительностью.
Одними из главных условий обеспечения высокого качества цифровых ИС являются правильная организация, высокие эффективность и точность контроля параметров на всех этапах производства ИС и их применения. Переход от производства ИС к БИС. потребовал перехода от контроля ИС на простейших автоматических установках к контролю на информационно-измерительных системах, управляемых от ЭВМ или имеющих встроенные микропроцессоры и микро-ЭВМ".
Созданию методов и средств контроля ИС посвящено большое количество статей отечественных и зарубежных авторов, но практически отсутствуют монографии. При написании книги авторы попытались ^обобщить материал по методам и средствам контроля ИС, использовав как свои собственные работы, так и литературные источники, стремились снабдить материал конкретными примерами.
В настоящей книге читателю представляется возможность познакомиться с различными классами цифровых ИС, системой параметров и методами их измерения и функционального контроля; с методами построения различных узлов информационно-измерительных устройств и их принципом работы. На рис. П.1 показана связь методов, видов и средств измерения и контроля при производстве ИС. В книге нашли отражение вопросы, связанные с рассмотрением
ОГЛАВЛ ЕНИЕ
Предисловие...................... 3
Глава 1.
Цифровые интегральные микросхемы........... 5
1.1. Логические элементы цифровых ИС...... . 5
1.2. Полупроводниковые запоминающие устройства ... 17
1.3. Микропроцессорные схемы.......... 30
1.4. Матричные БИС................ 36
Выводы...................... 38
Глава 2. Статические и динамические параметры интегральных микросхем и методы их измерения......... 39
2.1. Общие сведения............... . 39
2.2. Статические параметры ИС.......... 41
2.3. Динамические параметры ИС........ 51
2.4. Функционально-параметрический контроль ИС 65 Выводы...................... 68
Глава 3. Функциональный контроль интегральных микросхем ......................... • 69
3.1. Общие сведения................69
3.2. Методы функционального контроля........72
3.3. Способы построения алгоритмических функциональных тестов ОЗУ . ..............77
3.4. Особенности функционального контроля ЗУ с преимущественным считыванием информации .... 100
3.5. Методы построения функциональных тестов цифровых ЛС произвольной логики ........... 105
3.6. Функциональный контроль БИС сравнением с
кодовым эталоном.................114
Выводы.......................125
Глава 4. Средства измерения и контроля статических параметров цифровых интегральных микросхем........126
'4.1. Состав и характеристики............126
4.2. Программируемые источники напряжения и тока 129
4.3. Измерительные преобразователи напряжения
и тока......................146
4.4. Измерительные источники-преобразователи напряжения и тока...................152
4.5. Коммутатор................. . 157
4.6. Средства сопряжения............ . 160 '
4.7. Обеспечение электромагнитной совместимости . средств измерения и контроля..........164'
4.8. Методы определения характеристик......168'
Выводы..................... . 173
Глава 5. Средства измерения и контроля динамических параметров интегральных микросхем..............174
5.1. Принципы построения ИИС..........174
5.2. Погрешности измерения динамических параметров быстродействующих ИС............180
5.3. Анализ искажений импульсных сигналов в измерительном тракте ИИС............. 185
5.4. Анализ выходного сигнала ИС.........194
5.5. Анализ искажений выходного сигнала ИС . . . 198
5.6. Управляемые источники сигналов ИИС.....201
5.7. Структурные схемы ИИС со стробоскопическим методом преобразования............. 224
5.8. Системы контроля..............232
Выводы.....................235
Глава 6. Средства функционального контроля интегральных микросхем.....'.................236
6.1. Построение средств функционального контроля методом сравнения с эталоном ........... 236
6.2. Построение средств функционального контроля
с алгоритмической генерацией -сигналов.......241
6.3. Универсальные ИИС для функционального и параметрического контроля БИС............246
6.4. Блок электроники выводов...........258
6.5. Приборы функционального контроля для исследований ......................272
Выводы......................275
Глава 7. Программное обеспечение систем контроля . . . 275
7.1. Эволюция программного обеспечения систем контроля ..................... ... 275
7.2. Установки контроля для ИС малой степени интеграции........................ 278
7.3. Программное обеспечение многопостовых ИИС 279
7.4. Программное обеспечение систем контроля с ЭВМ 286
7.5. Программное обеспечение сложных систем контроля управляемых ЭВМ с ДОС.......... 294
7.6. Распределенные системы контроля с двухуровневым управлением................ 305
7.7. Языки описания процесса контроля.......310
Выводы......................324
Глава 8. Производственные системы измерения и контроля интегральных микросхем................ 325
8.1. Введение...................325
8.2. Многопостовые производственные ИИС......327
8.3. Применение ЭВМ в ИИС...........339
8 4. Оценка производительности ИИС .........345
Выводы.......................349
Заключение....................350
Список литературы.................356
Приложение.....................353
Цена: 150руб.
