Математика

Физика

Химия

Биология

Техника и    технологии

Аппаратура и методы рентгеновского анализа Вып. 25-Сб. статей
Аппаратура и методы рентгеновского анализа: Сб. статей ЛНПО «Буревестник».—Вып. 25.—Л.: Машиностроение, Ленингр. отд-ние, 1981, 246 с.
В сборнике освещаются вопросы разработки и использования рентгеновской аппаратуры и методики рентгеноспектрального и рентгеноструктурного анализов. Приводится описание новых приборов, как серийных, так и уникальных, и их характеристики, полученные при решении конкретных задач по исследованию различных материалов.
Сборник предназначен для научных и инженерно-технических работников, занимающихся вопросами рентгеновского анализа и рентгеновской спектроскопией.
Табл. 30, ил. 81, библиогр. 356 назв.
СОДЕРЖАНИЕ
Лосев Н. Ф., Волков В. Ф., Колесников В. В., Ери-т е н к о А. Н., С и н и ц ы н В. Н., Б л о х и н С. М., Красно-л у ц к и и В. П. Перспективы и направления развития количественного анализа элементного состава вещества по рентгеновским спектрам, возбуждаемым протонами и ионами......... 3
Б л о х и н С. М., Краснолуцкий В. П. Методика рентгеноспек-трального анализа гомогенных образцов сложного состава при возбуждении излучения ускоренными протонами......... 9
Грудский А. Я., Брытов И. А. О влиянии шероховатости поверхности зеркала на отражение ультрамягкого рентгеновского излучения........................... 16
Вайншенкер И. А., Крецер Ю. Л., Камар М. Г., Каша-фут динов Р. М., Соколова Л. Н., Сорокина Л. И. Программа обработки результатов количественного рентгеноспек-трального микроанализа на УВК М-6000............. 21
Мосичев В. И., Першин Н. В., Хомутинников А. А., Мишина С. А., Щушканов В. М. Изготовление градуиро-вочных образцов состава сплавов методом порошковой металлургии ............................. 25
В а н д е р А. С. Ионная пушка для послойного стравливания поверхности образца в спектрометре оже-электронов........ 30
Демехина Л. А., Сухорукое В. Л., Шелкович Т. В. Соотношения между сдвигами Ка,\, 2-линий и зарядами атома в соединениях ........................... 33
Каган Б. С., Л а пен ко В. В., Левитин А. И., Фрум-к и н С. П. Пространственное распределение интенсивности излучения рентгеновских трубок типа БХВ-6 и БХВ-7...... 39
Глускин Е. С., 3 а хв аткин М. Н., Лысенко А. П. Автоматизация рентгеноспектральных измерений, проводимых с использованием синхротронного излучения накопителя ВЭПП-2М .... 42
Бондаренко Б. Ю., Павлинский Г. В. Автоматизация методических исследований в рентгеноспектральном флуоресцентном анализе с помощью ЭВМ.................... 43
Китов Б. И., Павлинский Т. В. Влияние условий проведения рентгенофлуоресцентного анализа на воспроизводимость определений высоких содержаний элементов............. 55
Русин Ю. С., Попов Ю. В., Мельникова С. П. Влияние конструктивного исполнения рентгеновской трубки для спектрального анализа на интенсивность ее излучения .......... 61
Павлинский Г. В., Бондаренко Б. Ю. Роль характеристической составляющей первичного излучения в возбуждении рентгеновской флуоресценции.................... 66
Захаров Б. Г., Круглое М. В., Созонтов Е. А., Таги-р о в И. Р., Ш е м е л е в В. Н. Новые приборы для исследования совершенства кристаллической структуры методом внешнего рентгеновского фотоэффекта..................... 72
Брытов И. А., Лавров В. П., Белинкий Г. Е.,
Б л е х е р Б. Э. Приборы для исследования поверхности .... 75
КовредовА. А., Лютцау В. Г., Мясников Ю. Г., Поли щук В. М., Смирнова 3. Ф., Щукин Г. А., Ялын-
екая А. М. Рентгеновский аппарат АРТ-2,0 для топографических исследований реальной структуры кристаллов ....... 77
Смирнова 3. Ф., Соловьева Е. В., Гаврилова Л. Л., Ведерников Ю. Н., Мотора Н. С., Есин В. О., Гун-д ы р е в В. М. Метод фокусирующей рентгеновской топографии в полихроматическом излучении для исследования кристаллов
большой площади....................... 81
Берт Н. А., Конников С. Г., Лидер В. В. Реализация метода широкорасходящегося пучка рентгеновских лучей в РЭММе
для исследования полупроводниковых гетероструктур...... 84
СенинА. И., Фетисов Г. В., Демкин Ю. И., Мац его -р и н И. В. Опыт применения в мишиностроении рентгеновского
дифрактометра ДАРН-2,0.................... 92
Соловьева Е. В. Исследование зависимости дефектности структуры корунда от изменений в параметрах технологии выращивания кристаллов методом Вернейля................ 95
Игнатьев О. В., Школа Н. Ф., Косее А. И., Скури-
хин А. В. Разработка и исследование аналоговых процессоров Ю" Уманский М. М. Научные совещания по структурному и спектральному рентгеноанализу в СССР............... 11'
Кочержинский Ю. А., Мантуло А. П., Петьков В. В., Поленур А. В. Рентгеновская установка с разборной острофокусной трубкой повышенной интенсивности.......... 129
Бубнова Р. С. Кристаллохимия изоморфного ряда NaxLi2-xVzOe 134 Куколь В. В., Цигельницкий Г. М. Простая методика инди-
цирования замкнутых косселевских линий............ 139
Пономарев В. И., Атовмян Л. О., Нифонтов В. П., Г л а д у н о в Э. А., Ж и т е н е в Б. Н., К а д ы к о в А. И., С т а -ниловский А. И., Володин В. П., Перегудов Н. И., Рубцов В. А., Тарнопольский Б. Л. Система сбора, передачи, накопления и обработки рентгеноструктурного эксперимента на базе двусторонней связи дифрактометра ДАР-УМ с ЭВМ
БЭСМ-6............................ 142
Шульмейстер В. М. Предварительная обработка результатов дифрактометрического эксперимента для объектов с большими
параметрами элементарной ячейки ............... 147
Калинин Б. Д., Лобашева Н. М., Плотников Р. И., Рыльков В П., Давыдова Р. Т., ПанасюкВ. А. Использование метода теоретических поправок в программном обеспечении рентгеновского аналитического комплекса КРФ-18 М-6000 153 Букин Г. А. Однопроходный алгоритм исследования рентгенограммы ............................ 158
Б у к и н Г. А. Компактная схема аппроксимации.......... 164
Руус Р. Э., Жураковский А. П., М аисте А. А., Саар А. М.-Э., Э л а н г о М. А. Спектры поглощения щелочных галоидов в области 600—1200 эВ.............. 169
Б р ы т о в И. А., Д и к о в Ю. П., Р о м а щ е н к о Ю. Н., Б о г а т и -ков О. А., Конашенок К. И., Васильева Л. Б. Исследование лунного стекла методом рентгеновской спектроскопии ............................. 175
Эланго М. А., Жураковский А. П., Кадченко В. Н., М а и с т е А. А., Саар А. М.-Э. Проявление экситонных состояний в рентгеновских спектрах ионных кристаллов и через люминесценцию, вызванную их продуктами распада......... 178
Черкашенко В. М., Ку р м а е в Э. 3., Д о л г и х В. Е., Волков В. Л. Анизотропия рентгеновских эмиссионных спектров
ванадия в монокристалле X^Os................. 184
ою
Жмудский А. 3., Суржко В. Ф., Шияновский В. И. Механизм образования рентгеновских эмиссионных коротковолновых сателлитных линий К-серии................ 191
Левитин А. И., Каган Б. С., Шестакова Т. В. Установка
для измерения спектров возбуждения фотолюминесценции .... 193
Ершов Н. Н., Каган Б. С., Левитин А. И., Шестакова Т. В. Исследование влияния длинноволновой подсветки на рентгенолюминесценцию алмазов............... 195
Краткие сообщения
Ткаченко В. А., Хатапова Р. М. Автокатод из монокристаллического нитрида циркония................... 200
Горский Ю. И., Плотников Р. И. Статистическая погрешность корректировки интенсивностей в рентгеноспектральном анализе при учете аппаратурного дрейфа по контрольным образцам ............................ 202
Маренков О. С., Комков Б. Г., Эпштейн М. 3. Атомные
форм-факторы с учетом дисперсионных поправок........ 204
Котляров Я. Б. К вопросу об одновременной оценке аппаратурных и матричных эффектов в рентгеноспектральном анализе . . . 207
Котляров Я- Б., Плотников Р. И. Коррекция матричных эффектов в рентгеноспектральном анализе с помощью парциальных коэффициентов влияния.................... 211
Рефераты на статьи сборника «Аппаратура и методы рентгеновского
анализа».......................... 220

Цена: 150руб.

Назад

Заказ

На главную страницу

Hosted by uCoz