§ 12.1. Основные понятия теории качества.............. 384
§12.2. Назначение и виды контроля................ 387
§ 12.3. Контроль полупроводниковых ИМС............. 389
§ 12.4. Контроль гибридных ИМС . '............... 396
§ 12.5. Измерение статических и динамических параметров ИМС..... 401
§12.6. Контроль БИС.................... 405
§ 12.7. Методы неразрушающего контроля качества ИМС........ 407
§12.8. Подготовка производства и разработка технологии изготовления ИМС 411
ГЛАВА 13. Надежность интегральных микросхем....... 416
§13.1. Основные положения теории надежности........... 416
§ 13.2. Показатели надежности ИМС........:...... 421
§ 13.3. Тестовый метод оценки надежности ИМС........... 425
§ 13.4. Имитационные методы оценки надежности интегральных микросхем 430
ГЛАВА 14. Испытания интегральных микросхем....... 433
§ 14.1. Эксплуатационные воздействия на интегральные микросхемы .... 433
§14.2. Классификация испытаний ИМС............. . 436
§ 14.3. Проведение испытаний на надежность и оценка их результатов . . . 440
§ 14.4. Автоматизация испытаний................ 446
§ 14.5. Основные виды и причины отказов ИМС........... 448
§ 14.6. Анализ отказов ИМС.................. 453
Заключение........................ 456
Литература........................ 458
Предметный указатель...................... 459
Цена: 300руб.
