Математика

Физика

Химия

Биология

Техника и    технологии

Готра 3. Ю., Николаев И. М. Г 74 Контроль качества и надежность микросхем: Учебник для техникумов. — М.: Радио и связь, 1989.— 168 с.: ил. ISBN 5-256-00257-0. Рассматриваются главные направления теории надежности. Приводятся основные показатели качества и надежности, анализируются виды, причины и механизмы отказов интегральных микросхем. Определяется место неразрушающего контроля в системе управления качеством. Излагаются методики климатических и механических испытаний, методы контроля качества интегральных микросхем. Рассматриваются вопросы создания автоматизированных систем управления качеством. Для учащихся техникумов по специальности «Производство изделий электронной техники».
Предисловие..................
Глава 1. СТАНДАРТИЗАЦИЯ и КАЧЕСТВО....... 4
1.1. Категории и виды стандартов, применяемых в электронной промышленности .................
1.2. Стандартизация и управление качеством продукции..... 10
Глава 2. КАЧЕСТВО и НАДЕЖНОСТЬ ИНТЕГРАЛЬНЫХ МИКРОСХЕМ 12
2.1. Основные понятия теории вероятностей.........
2.2. Статистический ряд и его характеристики........
2.3. Основные законы распределения случайной величины..... 16
2.4. Критерий согласованности экспериментального и теоретического законов распределения ............... 22
2.5. Показатели надежности интегральных микросхем...... 24
2.6. Организация контроля качества в производстве интегральных микросхем................... 27
Глава 3. ОСНОВНЫЕ виды, ПРИЧИНЫ и МЕХАНИЗМЫ ОТКАЗОВ
ИНТЕГРАЛЬНЫХ МИКРОСХЕМ....... 35
3.1. Виды отказов, повреждений и их анализ........ 35
3.2. Механизм отказов активных элементов......... 38
3.3. Отказы металлизации.............. 46
3.4. Отказы контактных соединений........... 51
3.5. Методы оценки надежности............ 54
Глава 4. МЕТОДЫ КОНТРОЛЯ КАЧЕСТВА ИНТЕГРАЛЬНЫХ МИКРОСХЕМ ............. 63
4.1. Оптические методы контроля............ 65
4.2. Методы контроля распределения температурных полей..... 84
4.3. Радиационные методы контроля.......... . 89
4.4. Методы электронной микроскопии.......... 97
4.5. Mace-спектрометрические методы...........
4.6. Электрохимические методы контроля.......... 115
4.7. Контроль качества проведения технологических процессов с использованием тест-структуры.............. 119
Глава 5. ИСПЫТАНИЯ ИНТЕГРАЛЬНЫХ МИКРОСХЕМ. ... 125
5.1. Классификация испытаний............ 125
5.2. Стандартизация климатических требований при испытании изделий электронной техники .............. 128
5.3. Климатические испытания интегральных микросхем..... 136
5.4. Влияние механических воздействий на интегральные микросхемы, их стандартизация и виды механических испытаний интегральных микросхем .................. 146
5.5. Механические испытания интегральных микросхем...... 148
5.6. Классификация изделий электронной техники по условиям эксплуатации и стандартизации методов испытаний ........ 154
Глава 6. АВТОМАТИЗИРОВАННЫЕ СИСТЕМЫ УПРАВЛЕНИЯ КАЧЕСТВОМ ............. 158
6.1. Общие сведения о системе управления качеством...... 158
6.2. Моделирование системы управления качеством....... 160
6.3. Этапы создания и внедрение системы управления качеством . . . 164 Список литературы................ 168

Цена книги: 50руб.

Назад

Заказ

На главную страницу

Hosted by uCoz